Tämä automaattitarkennuksella varustettu korkean suurennoksen metallografinen mikroskooppi, joka on suunniteltu yksityiskohtaista materiaalinäytteen tarkastelua varten, on korkean suurennoksen metallografinen mikroskooppi, jossa on Automaattinen tarkennus. Se mahdollistaa kaksoisnäkymän havainnoinnin binokulaaristen okulaarien ja ulkoisen näytön kautta. USB-portti yhteensopiva langaton sovitin tukee langatonta tiedonsiirtoa. Varustettu kirkas- ja tummakenttätiloilla ja tasaisilla koaksiaalinen valaistus, se paljastaa mikroviat, kuten rakeet, pinnoitteet ja halkeamat terävästi. Se integroi kuvan tilannekuva- ja mittaus-analyysitoiminnot. Tärinää vaimentava vakaa kotelo varmistaa tasaisen kuvantamisen, kun taas päivitysvalmis modulaarinen asettelu alentaa myöhemmän vaiheen päivityskustannuksia.
Trinokulaariseen metallurgiseen jalustaan integroitu 4K-kamera mahdollistaa samanaikaisen okulaarin ja näytön katselun. Monilähtöinen portit, mukaan lukien HDMI, USB3.0 ja WiFi reaaliaikaista ultra-HD-mikrokuvaa varten.
Optinen suurennus 50-500 ×, suurin digitaalinen suurennus 2000 ×. Tarkka optinen polku ammattilaisen kanssa metallurgiset objektiivit takaavat terävän kuvantamisen mikrometallirakenteista ja raerakenteista.
Sisäänrakennettu automaattitarkennusmoduuli mahdollistaa nopean ja tasaisen tarkennuksen ilman manuaalista käyttöä, vähentää kuvan tärinää ja huomattavasti tehostaa tarkastustehokkuus epätasaisille metallografisille näytteille.
Yksiosainen valualumiinipohja pitää yksikön tasapainossa, vapaana huojumasta tai siirtymisestä pitkäaikaisen viipaleen tarkastuksen aikana ja materiaalihavainnointityötä.
Klassinen valko-sininen tutkimustyylinen runko tavallisella trinokulaarisella metallurgisella asettelulla, puhdas ja minimalistinen laboratoriot ja laaduntarkastustyöpajat.
Soveltuu metalli-metallografiseen analyysiin, puolijohdekiekkojen tarkastukseen, materiaalivika-analyysiin, yliopisto-opetus-tutkimus ja komponenttien laadun testaustehtävät.
Tukee 4K (3840 × 2160) valokuvien ja videoiden kaappaamista. Sisäänrakennettu monitorin mittaus ja PC-ohjelmistopohjainen mittaus saatavilla; kaksoistallennus USB-muistitikun ja tietokoneen kautta. Tukee syväterävyyspinoamista, kuvien yhdistämistä ja toissijainen kehitys kätevää kuvien arkistointia, vertailua ja syvällistä data-analyysiä varten.
Binokulaarinen katselu ja synkroninen elektroninen havainnointi:Synkronoitu näyttö okulaarin ja seurata. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain okulaarikatselua; ylimääräisiä kameratarvikkeita tarvitaan näytön ulostulolle.
4K ultra-teräväpiirtokuvaus + automaattitarkennus:Alkuperäinen 4K-resoluutio ja laitteiston automaattitarkennus epätasaisen pinnan näytteitä. Yleiset metallurgiset laitteet luottavat täysin manuaaliseen tarkennukseen pienemmällä kuvan resoluutiolla.
Kolminkertaiset lähtöliitännät:HDMI + USB3.0 + WiFi langaton siirto. Perinteinen metallurgia laitteet muodostavat yleensä vain yhteyden tietokoneeseen ilman langatonta lähetystoimintoa.
Kaksoismittaustilat:Offline-sisäänrakennettu mittaus näytössä sekä PC-ohjelmistopohjainen mittaus. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain PC-puolen mittausta ilman laitteistoon upotettua mittaustoimintoa.
Kaksoistallennustilat:Offline-tilassa USB-flash-aseman ja PC-ohjelmiston tallennustila; tiedon tallennus käytettävissä tietokoneella tai ilman. Perinteiset mallit vaativat PC:n kuvien tallentamiseen.
Kehittynyt kuvankäsittelyalgoritmi:Sisäänrakennettu syväterävyyspinoaminen ja kuvien liittäminen epätasaisen korkeuden metallografiset näytteet. Yleisistä metallurgisista mikroskoopeista puuttuu tällaisia sulautettuja algoritmitoimintoja.
Tuettu toissijainen kehitys:Verkkokäyttöinen järjestelmä mahdollistaa automaation tuotantolinjan integraatio. Yleiset metallurgiset mikroskoopit eivät tue toissijaisen kehityksen integrointia.
Erillinen metallurginen optinen polku:Optimoitu metallisyistä, pinnoittamiseen ja materiaali-metallografinen-analyysi. Tavallisista digitaalisista mikroskoopeista puuttuu omistettu optinen reitti, eivätkä ne pysty tarkkailemaan tarkasti metallurgiset mikrorakenteet.
Integroitu alkuperäiseen 3840 × 2160 4K-kuvasensoriin ja kalibroitu standardilla metallurgiset resoluutiomallit, laitteisto saavuttaa koko kentän tasaisen terävyyden. Se mahdollistaa mikroskooppisten piirteiden selkeän tunnistamisen mukaan lukien metalliset raeraajat, pinnoituksen delaminaatio, pinnan mikrohalkeamat ja materiaalin metallurgiset kudokset ilman perifeerinen defocusing.
Hyväksymme korkealaatuiset akromaattiset metallurgiset tavoitteet tehokkaaseen mikroskooppiseen havainnointiin ja analysointiin. The päivitetty trinokulaarinen optinen putki toteuttaa synkronisen optisen katselun ja digitaalisen kuvantamisen, joka soveltuu täysin metalli-mikrorakenne-tutkimus, pinnoitteen paksuuden tarkastus, rakeiden laatuluokitus ja teollisuuden laadunvalvontaskenaariot.
Erillinen metallurginen mittausjärjestelmä tarjoaa reaaliaikaisen näytön parametrien peittokuvan ja moniulotteinen data-analyysi. Se mittaa tarkasti kriittiset metallurgiset parametrit, kuten kalvon paksuuden, raeulottuvuus, murtuman leveys ja kerrostusrako, ja se tukee välitöntä merkintää, näyte-kuvan tallennusta ja tarkastus-tietojen vienti. Yhteensopiva syväterävyyspinoamis- ja kuvanliitostoimintojen kanssa.
Kaksoisreittiläpäisevä ja heijastuva valaistus takaa pätevän valaistuksen erilaisille näytetyypeille. The tarkkuus XY-akselin mekaaninen vaihe tarjoaa sujuvan liikkeen ja nopean kohteen paikantamisen. Jäykkä täysmetallinen runko tarjoaa erinomaisen tärinänvaimennussuorituskyvyn varmistaen vakaan ja luotettavan toiminnan pitkän ajan ammatti-metallurgiset testaukset.
Puolijohde- ja elektroniikkakomponentit:IC-sirut, piikiekot, fotolitografiaviipaleet, PCB levyt, joustavat FPC-levyt, juotosliitokset, tapit. Tarkastuskohteet: Tarkkaile sisäisiä sirupiirejä, kiekkojen pinnoitteet, kylmäjuotteen viat, hapettuminen, piirien naarmut ja tappien muodonmuutos; analysoida mikro-slice-rakenteet enintään 2000-kertaisella suurennuksella.
Metallimateriaalit ja metallografiset näytteet:Metallografiset viipaleet, poranterät, jyrsimet, leimattu metallilaitteisto. Tarkastuskohteet: Metallografinen-rae-rakenne-analyysi, lämpökäsittely-materiaalin tunnistus; tunnistaa reunahalkeamat, mikrohalkeamat, purseet ja hankaussyvyyden.
LED-optoelektroniset ja muovivaletut osat:LED-sirut, optiset muoviosat, ruiskutus ja meistetty tuotteita. Tarkastuskohteet: Tarkastele pieniä lovia, pinnan tahroja, karkeita reunoja, vieraita mikrohiukkasia, liima-delaminaatio ja tiivistys-mikrovirheet.
Tarkat miniatyyrikomponentit:Liittimet, liittimet, mikrojouset, pienet meistetut työkappaleet. Tarkastuskohteet: Tarkkaile pieniä rakoja ja poimutusta; suorittaa pikselitason tarkan pituuden mittauksen, reiän halkaisija ja nousu.
Laboratorio- ja teollinen laadunvalvonta-arkistointi:Metallografinen-slice-experiment-analyysi, saapuvien ja valmiiden tavaroiden näytteenotto-tarkastus; valokuva- ja video-arkistointi viallisia todisteita varten ja muodollisten mittausten laadunvalvontaraporttien vienti.
Optinen suurennusalue 50 × - 500 ×, digitaalinen enimmäissuurennus jopa 2000 ×. Sisäänrakennettu automaattitarkennus eliminoi toistuva manuaalinen tarkennus epätasaisille näytteille. Natiivi 4K 3840 × 2160 -resoluutio tallentaa selkeästi metallografiset tekstuurit, kiekkojen pinnoitteet ja mikrosirujäljet, mikä lisää huomattavasti bulkkinäytteiden laboratoriotarkastusten tehokkuutta.
Kolminkertaiset ulostuloportit: HDMI, USB3.0 ja WiFi. HDMI-liitäntä-näyttö paikan päällä katselua varten; USB3.0 mahdollistaa nopean PC- analyysi; Langaton WiFi-lähetys puhelimiin ja tablet-laitteisiin kaapelittomaan kauko-tarkkailuun, sopii spot-näytteenottoon ja ryhmäopetus-keskustelu.
Kaksi mittausratkaisua: sisäänrakennettu monitori-mittaus ja PC-ohjelmistopohjainen mittaus. Varustettu syväterävyyspinoaminen ja kuvien yhdistäminen tuottaakseen täysin tarkennettuja kuvia epätasaisista näytteistä ja saumattomat panoraamanäkymät suurista näytteistä. Tukee toissijaista kehitystä tuotantolinja-integraatiota varten, ihanteellinen uusien materiaalien tutkimus ja pinnoitteen sietoanalyysi.
Trinokulaarinen synkroninen muotoilu mahdollistaa samanaikaisen katselun binokulaaristen okulaarien ja 4K-näytön kautta. Opettajat ja QC-tarkastajat voivat tarkkailla samaa mikronäytettä yhdessä, mikä sopii erinomaisesti yliopistokoulutukseen ja kaksoistarkastukseen tehtaiden viat.
Kaksi tallennusvaihtoehtoa: suora USB-flash-aseman tallennus 4K-valokuville/videoille ja PC-ohjelmiston arkistointi mass-images-&-measurement-data. Tallennetut tietueet ja ulottuvuusraportit voidaan viedä ja säilyttää pitkällä aikavälillä, tehdaslaadunvalvonta-, yliopisto-laboratorioraporttien ja puolijohteiden saapumisen tarkastuksen jäljitettävyys-vaatimusten täyttäminen.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Entiteetti | Kuvaus |
| Tuote | GP-L200-462H 4K korkean suurennoksen metallografinen mikroskooppi automaattitarkennuksella |
| Luokka | Teollinen trinokulaarinen korkean suurennos 4K automaattitarkennus Metallografinen tarkastus ja mittaus Mikroskooppi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen havainnointi optinen järjestelmä, ammattimainen metallurginen objektiivisarja, 4K ultra-teräväpiirtoCMOS-kuvaus, automaattitarkennusmoduuli, monikanavainen signaalinsiirto, kaksoisdigitaalinen mittauskone, syväterävyyden pinoaminen ja kuvien yhdistämisalgoritmi, avoimen järjestelmän tuki toissijainen kehitys |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/200/500 ×; Elektroninen suurennus: 200/400/800/2000 ×; Kolminkertainen ulostulo: HDMI + USB3.0 + WiFi; 4K-kaappausresoluutio 3840 × 2160; Automaattitarkennus suunnittelu; Kaksoismittaustila: sisäänrakennettu mittaus laitteessa + ammattitason PC-ohjelmiston mittaus *(0,001 mm, pienempi mittaustoleranssi voi saavutetaan suuremmalla suurennuksella. Tulokset riippuvat kalibroinnista, suurennuksesta ja näytteestä ehdot)*; Kaksoistallennus: USB-flash-aseman paikallinen tallennus + tietokoneen tiedostojen tallennus; Monitori-pääte tukee kuvan esikatselua, mittamittausta, valokuva- ja videokaappausta; PC-pääte tukee mittaus ja kuvien arkistointi, yhteensopiva toissijaisen kehitys-integroinnin kanssa |
| Tyypilliset sovellukset | Metalli-metallografinen rakenne-analyysi, metalliseoksen rakeiden ja materiaalien rakenteen havainnointi, pinnoitteen paksuuden mittaus, puolijohdekiekon tunnistus, piirilevyn poikkileikkauksen tarkastus, tarkkuus-laitteisto-vika-analyysi, yliopisto-laboratorio-materiaali-tutkimus, uusi-energia-materiaali-laatu- testaus |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (lähellä Shanghaita) |
| Tuotteen merkki | GAOPIN |
| Tuotteen malli | GP-L200-462H |
| Resoluutio | 3840 × 2160 (4K) |
| Tehokkaat pikselit | 8,3 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Automaattinen tarkennus |
| Anturin optinen muoto | 1/1,8" |
| Pikselin koko | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Lähtöliitännät | HDMI + USB3.0 + WiFi |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 USB3.0: 30 fps @3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 WiFi: 30 fps @3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 |
| Mittaustoiminto | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä + PC-ohjelmistopohjainen mittaus |
| Mittaustarkkuus | 0,002-0,005 mm *(Pienempi mittaustoleranssi voidaan saavuttaa suuremmalla suurennuksella. Tulokset aihe kalibrointiin, suurennukseen ja näyteolosuhteisiin)* |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4-suuntainen kytkettävä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, säde, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki |
| Varastointimenetelmä | USB-muistitikku + PC-ohjelmistotallennus |
| Kuvan nimeämistila | Automaattinen tai manuaalinen kuvatiedoston nimeäminen |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz pääohjausprosessori |
| Laiteohjelmiston käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittausjärjestelmä, joka on rakennettu Linux 3.1 -ytimeen |
| Tarkkailupää | 30° kalteva trinokulaarinen havaintoputki, 360° kääntyvä, säädettävä pupillien välinen etäisyys |
| Havaintomenetelmä | Kirkas kenttä / vino valaistus / läpäisevä valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Heijastunut ja lähetetty kaksipolkuinen valaistusjärjestelmä, 100-240 V laaja jännite; säädettävä filamenttikeskus, jatkuvasti säädettävä valon voimakkuus |
| Jalustan runko | Kaksikäyttöinen lähetetty ja heijastava teline; koaksiaalinen karkea-hieno tarkennusmekanismi; karkea säätö aivohalvaus 33 mm, hienosäätötarkkuus 0,002 mm lukituksella ja rajoittimella; halogeenilamppujen valaistus; Kirkkaan kentän heijastin, jossa on säädettävä aukko, kentän pysäytys ja värisuodatinmuunnos; Varustettu kanssa sininen suodatin heijastuneen valon havainnointiin |
| Mobiilialusta | Kaksikerroksinen mekaaninen liikkuva vaiheessa; lavan koko: 140 × 132 mm; X-Y-isku: 76 × 50 mm; lasilava varten välitetty ja heijastettu havainto |
| Valonlähde | 6V-30W halogeenilamppu heijastuneelle valolle; 6V-30W halogeenilamppu läpäisevään valoon |
| Yksinkertainen polarisaatio | 30° polarisaattorisisäke (heijastettu valo) + 360° kääntyvä analysaattorisisä polarisoituun havainnointiin |
| Sähköinen käyttöliittymä | 0,5X C-kiinnitysliitäntä, säädettävä tarkennus [Valinnainen: 1X C-kiinnitys] |
| Okulaari | Korkean silmäpisteen suuren kentän tasainen okulaari PL10X/18 mm (yksi okulaari asteikkomerkillä) |
| Metallurginen objektiivi | Pitkän työskentelyetäisyyden tasaisen kentän akromaattiset metallurgiset objektiivit: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 leveys 8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optinen suurennus | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × nelitasoinen säädettävä |
| Elektroninen suurennus | Noin 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × nelitasoinen säädettävä (laajennettavissa 400-4000 ×) |
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
NIO Shanghai – tarkkuustarkastus uusien energia-autojen osille ja johdinsarjakokoonpanoille
GREE Electric Appliances (Hefei) – Kodinkoneiden komponenttien tarkkuusmittaus ja vikojen tarkastus
Huawei Electronics – saapuvien materiaalien tarkastus ja tuotantolinjan laadunvalvonta elektronisille komponenteille
DOOV – Mobiililaitteen kokoonpanon tarkastus, näytön ja komponenttien ulkoasun testaus
Linssiteknologia – Mikroviantunnistus lasisuojalevyille ja puhelimen suojapaneeleille
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisten komponenttien testaus ja vika-analyysi
Objektiivi ja okulaari:Pyyhi linssit varovasti linssipaperilla ja linssinpuhdistusaineella. Älä koskaan koske optiseen linssejä paljain käsin tai käytä puhdistukseen tavallisia talouspaperia.
Päärunko ja lava:Poista näytejätteet ja metallurginen jauhe välittömästi. Pyyhi kotelo a kuiva pehmeällä kankaalla; vältä nesteroiskeita. Tarkista säännöllisesti, että tason ruuvit ovat tiukalla, jotta vältytään aiheuttamasta siirtymisestä törmäyksiä.
Läpäisevän ja heijastuneen valon lähde:Sammuta valonlähde, kun mikroskooppi on käyttämättömänä. Blow pyyhi pöly pois valoikkunasta äläkä kosketa polttimoa suoraan.
Mekaaninen tarkennusmekanismi:Älä kierrä tarkennuksen käsipyörää liiallisella voimalla. Jatka liukumista puhtaat jäljet; älä koskaan voitele niitä itse.
Varastointiympäristö:Säilytä kuivassa, hyvin ilmastoidussa tilassa kosteuden ja homeen estämiseksi. Peitä laitetta pölysuojalla käytön jälkeen.
Ohjelmisto ja kalibrointi:Kalibroi mitta-asteikko ennen mittausten suorittamista. Täysin lähellä liittyvät ohjelmistot ennen virran katkaisemista. Älä pura yksikköä ilman lupaa; ota yhteyttä huoltopalvelua toimintahäiriöiden sattuessa.
A1: Visuaalinen suurennus: 50-500 ×; Elektroninen suurennus: 200-2000 ×. Synkroninen havainnointi okulaarin ja monitori on saatavilla rutiini- ja tarkkuustarkastukseen.
A2: Se tukee HDMI-, USB3.0- ja WiFi-lähtöä. Se voi toimia suoraan näyttöjen ja tietokoneiden kanssa tai saavuttaa langattoman yhteyden näytön projisointi WiFi-yhteyden kautta.
A3: Se tukee 4K-kuvausta, videotallennusta ja tarkkaa mittausta. Vastaava ohjelmisto ymmärtää syväterävyys pinoaminen ja kuvien liittäminen. Se tukee USB-muistitikkua ja PC-tallennusta, raporttien vientiä ja toissijaista kehitystä. Soveltuu metalli-metallografiaan, lastuihin, kuituihin, jauhemetallurgiaan, tarkkuuselektroniikkatarkastukseen, tieteelliseen tutkimus- ja opetusskenaariot.
A4: Tarkista virtalähteen tila ja HDMI-kaapeliliitännät ja varmista, että näyttö on kytketty oikein signaali-tulo-kanava. Käynnistä mikroskoopin isäntä uudelleen. Jos vika jatkuu, ota yhteyttä huoltopalveluun.
A5: Ihanteellinen metallografiseen analyysiin, siruihin, tarkkuuselektroniikkaan, jauhemetallurgiaan ja kuitutestaukseen. Sopii käytettäväksi teollinen-laatu-tarkastus, tieteellinen-tutkimus ja opetus-työ.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., perustettu vuonna 2011, jonka perustaja on kerännyt alan asiantuntemusta vuodesta 2005, on teknologiaan keskittynyt yritys, joka on erikoistunut teollisuuden suunnitteluun, tuotekehitykseen, myyntiin ja huoltopalveluun mikroskoopit, mukaan lukien korkean suurennoksen metallografinen mikroskooppi automaattitarkennuksella. Ydininsinööritiimimme tuo yli kymmenen vuoden erikoiskokemus takaa kehittyneen teknologian ja luotettavan laadun. Useamman kuin yhden kanssa sata optisten tuotemallien ja maailmanlaajuisen asiakaskunnan ansiosta GAOPIN toimittaa jatkuvasti räätälöityjä, kustannustehokkaita mikroskopia ratkaisuja. Tarjoamme nopeaa maailmanlaajuista teknistä tukea verkkokonferenssien, video-avusteisen opastuksen, ja etäkoulutukset. Tehtaamme sijaitsee Kunshanissa, Jiangsun maakunnassa (lähellä Shanghaita). Molemmat paikan päällä tehdastarkastuksia ja virtuaalisia tehdaskierroksia ovat asiakkaiden käytettävissä. Ota rohkeasti yhteyttä meihin Tällä GP-L200-462H 4K automaattitarkennuksella metallurgisella mikroskoopilla otettuja näytetestikuvia kuvantamisen arvioimiseksi suorituskykyä ensikäden.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
