Tutkimusluokan metallografinen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä ja automaattitarkennuksella suurella 4K-metallurgisella mikroskoopilla. 4K Autofocus tutkimustason metallurginen mikroskooppi on käytössä 5-portainen suurennussäätö, suurennus vaihtelee välillä 380× – 6080×. Erittäin suuri liikkuva lava voi pidä suurikokoisia näytteitä. 4K-erittäin selkeät kuvat tarjoavat teräviä ja herkkiä mikrorakenteen yksityiskohtia. Trinokulaariportti voi olla kytketty kameroihin ja metallografiseen analyysiohjelmistoon, soveltuu hyvin suurimetallien havainnointiin, puolijohde tarkastus, PCB-viipaleanalyysi, tieteellinen tutkimus ja laadunvalvonta.
Tämä instrumentti soveltuu metallografisten mikrorakenteiden ja pinnan morfologian mikroskooppiseen havainnointiin. Se toimii ihanteellisena tutkimusvälineenä metallurgian, mineralogian ja tarkkuustekniikan aloille.
Trinokulaariseen koteloon sisäänrakennettu 4K-kamera mahdollistaa samanaikaisen katselun okulaarien ja ulkoisen näytön kautta. Moniportti lähtö kautta HDMI, USB3.0 ja WIFI lähettävät ultra-HD-mikrokuvia reaaliajassa.
Optinen suurennus 50-800×; Suurin puhdas digitaalinen suurennus saavuttaa 6080X viiden objektiivin objektiivisarjalla. Tarkkuus optinen polku tarjoaa terävät yksityiskohdat sirujen ja kiekkojen mikrotarkastusta varten.
Sisäänrakennettu laitteiston automaattinen tarkennusmoduuli mahdollistaa tasaisen, tärinättömän tarkennuksen ja tehostaa massanäytteenottoa testaus; manuaalinen tarkennustila on myös saatavilla.
Erittäin suuri liikkuva näytepöytä yhdistettynä paksun integroidun metallipohjan kanssa. Pysyy vakaana suurikokoisille näytteille ilman huojuntaa pitkän havainnoinnin aikana.
Minimalistinen integroitu laboratoriotyylinen jäykkä metallirunko, joka sopii täydellisesti puolijohdepajoihin, yliopistoon laboratoriot ja QC-tilat.
Ihanteellinen sirujen ja kiekkojen tarkastukseen; myös laajalti käytetty puolijohteiden testaukseen, metallografiseen analyysiin, materiaalitutkimus ja laadunarviointityö.
Tukee 4K-valokuvien ja -videoiden tallennusta, kaksoismittaustiloja (näytöllä sisäänrakennettu + PC-ohjelmisto). Kaksoistallennus kautta U-levy & tietokone. Syvyysterävyyssynteesi toimii sekä näytössä että PC-ohjelmistossa; kuvien liitostoiminto on käytettävissä vain sisään PC-ohjelmisto. Toissijaista kehitystä tuetaan kuvien arkistointiin, vertailuun ja edistyneeseen analyysiin.
Näytevaihe:GP-L500-462H käyttää suurikokoisia liikkuvia vaiheita suurikokoisille siruille / kiekkoille laaja matkavalikoima. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit on varustettu pienikokoisella alustalla vain pienille näytteille ja vaativat näytteen säännöllistä uudelleensijoittamista.
Suurennusalue:380-6080X viiden nopeuden suuri suurennus, joka tarjoaa teräviä yksityiskohtia pienille sirupiirin tarkastus. Tavallisissa metallurgisissa mikroskoopeissa on vähemmän suurennusvaihteita ja pienempi maksimi suurennus, mikä johtaa epäselviin kuviin suurella teholla.
Kuvaus ja mittaus:Natiivi 4K tutkimustason kamera, sisäänrakennettu monitorimittaus, valokuvien ja videoiden tallennustoiminto. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit hyväksyvät matalan tarkkuuden 2K-kameran ilman sisäänrakennettua mittaus, PC-ohjelmisto on pakollinen analysointityössä.
Sovellusalue:Optimoitu kiekkoille, puolijohteille ja suurille tarkkuuselektronisille osille tarkastus. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit sopivat vain pienille metalliviipaleille ja toimivat huonosti suurille siru-näytteet.
Mekaniikka:Täysmetallirakenne takaa korkean jäykkyyden ja tärinänkestävyyden. Laitteiston automaattitarkennus moduulilla varustettu. Tarkka karkea-hieno tarkennus ilman välystä. Suurikokoinen manuaalinen XY-lava, jossa on vähän kulumista ja minimaalinen välys. Trinokulaarinen optinen polku säilyttää optisen samansuuntaisuuden objektiivia vaihdettaessa.
Optiikka:Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit huurtumista estävällä kovapinnoitteella. Heijastava valo 6V-30W halogeenilamppuvalaistus.
Kuvaus ja mittaus:8,3 megapikselin 4K teollisuusluokan CMOS-kamera. Monilähtöliitännät: HDMI + USB3.0 + WIFI, jossa on erinomainen häiriönestokyky teollisuusympäristösovelluksiin. Tukee sekä sulautettua näytön mittausta että PC-ohjelmistopohjaista mittausta. Kaksipolkuinen tallennus: USB-muistitikku ja PC-ohjelmisto. Syvyysterävyyden pinoamistoiminto on käytettävissä näytöllä ja PC-ohjelmiston kautta; kuvan ompeleminen toimintoa tukee vain PC-ohjelmisto. Toissijainen kehitysliittymä on käytettävissä USB3.0 / WIFI:n kautta.
Toimintaympäristö:Käyttölämpötila 10-35℃, suhteellinen kosteus 30-75%RH. Vakaa normaalin alla tehtaan sähkömagneettinen ympäristö. Vältä voimakasta tärinää, syövyttäviä kaasuja ja kovaa pölyä. Pidä WIFI-moduuli poissa voimakkaat signaalin häiriölähteet.
Laatu ja huolto:Koko tuotteen tehdastarkastus. Älä pura optisia moduuleja tai automaattitarkennusmoduuli. Säännöllinen pölytiivis puhdistus pidentää käyttöikää.
Puolijohdekiekot ja -sirut (ydinsovellus):
Piikiekot, litografiaviipaleet, IC-sirut, MOS-putket, piirilevyt, FPC-joustopiirit, pakatut juotosliitokset.
Tarkastuskohteet: sisäiset mikrosirupiirit, kiekkojen pinnoitteet, syövytysvirheet, pakkauskuplat, kylmäjuotto
liitokset, hapettuminen ja tappien muodonmuutos.
Metallografiset näytteet ja metallinleikkauskomponentit:
Metallografiset profiilit, seosteräs, tarkkuusleimatut metalliosat.
Tarkastuskohteet: metallin raerakenne, lämpökäsittelyn metallografinen analyysi, mikropinnan halkeamat,
huippuluokan lastut, purseet, kulumisjäljet ja sisäisten materiaalien epäpuhtaudet.
Laboratorionäytteet: jauhe, kuitu ja ohut kalvo:
Metallijauhe, kemiallinen jauhe, hiilikuitu, tekstiilikuitu, optiset pinnoituskalvot.
Tarkkaile hiukkasten morfologiaa, kuitujen rakennetta, kalvon delaminaatiota ja mikropinnoiterakenteita.
Optoelektroniset ja tarkkuusmuovikomponentit:
LED-sirut, optiset linssit, ruiskuvaletut osat, puolijohdeliima.
Tunnista mikrohuokoset, pintatahrat, karkeat reunat, delaminaatio, kuplat ja pienet kosmeettiset viat.
Suuret tarkkuusminiatyyrikomponentit:
Liittimet, liittimet, mikrojouset, suurileimatut työkappaleet, pitkät osat.
Erittäin suuri liikkuva lava mahtuu ylimitoitettuja näytteitä; 4K-pikselitasolla tarkka mittaus rakoille, rei'ille
halkaisijat, korkeuserot ja lineaariset mitat.
Akateeminen Labs & Semiconductor Factory QC:
Materiaalitutkimuskokeet, saapuvien tavaroiden ja valmiiden tuotteiden täydellinen puolijohteiden tarkastus,
metallografinen näytteen tarkkailu; valokuvien/videoiden arkistointi, liitä tietokoneeseen viedäksesi ammattimaisen mittauslaadun
raportteja.
Tässä laitteessa on natiivi 3840*2160 4K-kuvaus. Se soveltuu puolijohteiden, piirilevyjen ja piirilevyjen tarkkaan tarkasteluun materiaaliviipaleet sekä testiraporttien vienti, mikä paljastaa selvästi pienet tekstuurit ja mikrovirheet.
Varustettu laitteistolla automaattitarkennuksella. Sopii massatuotantotarkastukseen ja säännölliseen näytteiden vaihtoon. Saavutetaan nopeasti keskittyminen näytteen liikkeen jälkeen ilman toistuvaa manuaalista säätöä.
Suuri liikkuva lava ja pystysuora trinokulaarinen metallurginen optinen polku on suunniteltu suurikokoisille, täysikokoisille kiekoille PCB:t ja metallinäytteet, jotka estävät tehokkaasti heijastavan häikäisyn.
Kaksoissuurennusalue: 50-800X optinen suurennus, 380-6080X digitaalinen suurennus. Kattaa molemmat kokonaisnäyte tarkkailu ja mikrojyvien / mikrovikojen tarkastus.
Tukee sisäänrakennettua laitteen mittausta ja PC-ohjelmiston mittausta. Varustettu HDMI-, USB3.0- ja WIFI-lähdöillä portit. Valokuvia, videoita ja mittaustietoja voidaan tallentaa U-levylle tai tietokoneelle. Toissijainen kehitys tuettu tuotantolinjojen integrointi ja laboratoriotietojen jäljitettävyys.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Tuote | Kuvaus |
| Tuote | GP-L500-462H tutkimusluokan metallografinen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä ja automaattitarkennuksella |
| Luokka | Teollisuuden tutkimustason suuren alustan 4K automaattitarkennus metallurginen tarkastus ja mittaus Mikroskooppi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen katseluoptinen järjestelmä, suuren alueen liikkuva näytelava, suuritehoinen metallurginen objektiivisarja, 4K ultra-HD CMOS -kuvakenno, laitteiston automaattitarkennusmoduuli, kolmikanavainen lähetys (HDMI+USB3.0+WIFI), kaksoismittausjärjestelmä, syväterävyyssynteesi ja kuvien yhdistämisalgoritmi, toissijaista kehitystä tukeva avoin arkkitehtuuri |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/200/500/800×; Elektroninen suurennus: 380/760/1520/3800/6080× (6080X on puhdasta digitaalinen zoom); Kolminkertaiset ulostuloportit: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-kaappausresoluutio: 3840 × 2160; Laitteisto automaattitarkennus varustettu; Kaksoismittaustilat: sisäänrakennettu tarkka mittaus + erillinen PC-ohjelmisto mittaus; Kaksoistallennustilat: U-levyn paikallinen tallennus + PC-ohjelmiston tallennus; Näytön pääte tukee ulottuvuutta mittaus, HD-kuvan esikatselu, valokuva-videotallennus, syväterävyyssynteesi; PC-pääte tukee mittamittaus, tiedostojen tallennus, syväterävyyssynteesi ja kuvien yhdistäminen; Koko yksikkö tukee toissijaisen kehityksen integrointi. |
| Tyypilliset sovellukset | Puolijohdekiekkojen ja sirujen mikrorakenteen tarkastus, suurikokoisten elektronisten komponenttien tarkkailu, metallia metallografinen raerakenneanalyysi, pakkauspiirin tunnistus, piirilevyn poikkileikkauksen tarkastus, tarkkuuselektronisten komponenttien vikaanalyysi, uuden energian materiaalin laadun testaus, yliopisto-edistynyt-materiaali-laboratoriotutkimus |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (Shanghain vieressä) |
| Malli | GP-L500-462H |
| Resoluutio | 3840×2160 |
| Todella tehokkaat pikselit | 8,3 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | automaattitarkennus |
| Optinen muoto | 1/1,8" |
| Pikselin koko | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Tulostusmenetelmä | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Yksityiskohtaiset toiminnalliset esittelyt, jotka vastaavat jokaista lähtöliitäntää | ① HDMI liitetään 4K-yhteensopiviin näyttöihin. Sulautetut ammattimaisen kuvankäsittelyn laiteohjelmiston tuet
laitteistopohjainen automaattitarkennus, valokuvien tallennus, videotallennus, mittamittaus, kuvan toisto
ja
kuvien vertailu, jota käytetään hiirellä reaaliajassa. ② USB 3.0 liitetään tietokoneeseen, mukana korkealaatuinen ammattimainen kuvankäsittelyohjelmisto valokuvien ottamiseen, mittamittaukseen, syväterävyysfuusio ja kuvien yhdistäminen. ③ WIFI-moduuli liitetään kannettaviin tietokoneisiin tai mobiililaitteisiin; reaaliaikainen kuvien siirto, valokuvaus ja tallennus vastaavien ohjelmistojen avulla. |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @3840×2160 USB3.0: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30 fps @ 3840 × 2160; 60 fps @1920×1080 |
| Syvyysterävyyssynteesi | Tukee sekä HDMI-monitorin laiteohjelmistoa että PC-ohjelmistoa |
| Kuvan yhdistäminen | Tuettu vain PC-ohjelmistopuolella |
| Mittausmenetelmä | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä + PC-ohjelmistomittaus |
| Mittaustarkkuus | 0,002-0,005 mm |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4 vaihdettavaa yksikköä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, radiaani, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus lisäämällä, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki ja paljon muuta |
| Varastointimenetelmä | U-levytallennus + PC-ohjelmistotallennus |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz pääohjausprosessori |
| Käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittauslaiteohjelmisto, joka perustuu Linux 3.1 -ytimeen |
| Kuvan nimeäminen | Automaattinen tai manuaalinen nimeäminen saatavilla |
| Katselupää | 30° kalteva saranatyyppinen trinokulaarinen pää; pupillien välinen säätöalue: 53 mm-75 mm |
| Tarkkailutilat | Kirkas kenttä / vino valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Vain heijastuva putoavan valon valaistusjärjestelmä, 100-240 V laajajännitetulo, säädettävä hehkulanka keskus, portaattomasti säädettävä valon voimakkuus. |
| Seiso | ① Kuvaustyyppinen teline, matala-asentoinen koaksiaalinen karkea-hieno-tarkennusmekanismi, jossa lukitus ja
rajoittava
laitteet; hienoliikkeen asteikon arvo: 0,7 μm. Halogeenilamppu heijastuneen valon valaistus. ② Kirkas kenttä heijastin säädettävällä aukon rajoittimella, kenttäpysäytyksellä ja värisuodattimen kytkentäyksiköllä. ③ Keltainen, sininen, vihreä suodattimet ja himmeä lasilevy toimitetaan heijastuneen valon optiselle polulle. |
| Mekaaninen vaihe | ★ Mekaaninen liikkuva vaihe. Lavan mitat: 280 mm × 270 mm; X-Y liike: 204 mm × 204 mm (8 tuuman liike). Lasi näytteen kantolevy vain heijastuneen valon tarkkailuun, sopii suurikokoisille työkappaleille. |
| Valon lähde | 6V 30W halogeenilamppu (vain heijastuva valo) |
| Yksinkertainen polarisaatio | Pull-push polarisaattori ja polarisaattori |
| Elektroninen käyttöliittymä | CTV 1X kiinteän tarkennuksen kameraliitäntä; CTV 0.5X on valinnainen hintaerokompensaatiolla. |
| Okulaarit | Kaksi WF10X/22 mm laajakulmaista tasokenttäokulaaria, joissa on yksilöllinen diopterin säätö |
| Nenäkappale | ★ Mingchangin viiden reiän objektiivin suukappale |
| Metallurgiset tavoitteet | ★ Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit ① PL L5X/0,12, työskentelyetäisyys: 26,1 mm × 1kpl ② PL L10X/0,25, työskentelyetäisyys: 20,2 mm × 1 kpl ③ PL L20X/0,40, työskentelyetäisyys: 8,80 mm × 1kpl ④ PL L50X/0,70, työskentelyetäisyys: 3,68 mm × 1 kpl ⑤ PL L80X/0,80, työskentelyetäisyys: 1,25 mm × 1kpl |
| Optinen suurennus | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (kytkettävä viisi tasoa) |
| Elektroninen suurennus | Noin 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (kytkettävä viisi tasoa); valinnainen alue: 190-3040X. |
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Epäorgaanisen keramiikan ja uuden energian materiaalien mikroanalyysi
Ydinteollisuuden fysiikan ja kemiantekniikan tutkimuslaitos – Mikromorfologian havainnointi & erikoismateriaalien tarkkuuskomponenttianalyysit
Shanghain optiikan ja hienomekaniikan instituutti, CAS – Advanced-optical-research & optical-component luonnehdinta
Tsinghuan yliopisto – Opetus, laboratoriokuvantaminen ja kokeellinen tietojen arkistointi
Beijing Institute of Technology – Tieteellinen tutkimus-analyysi sotilasmateriaaleista ja optoelektronisista laitteista
DOOV – Mobiililaitteen kokoonpanon tarkastus, näytön ja komponenttien ulkoasun testaus
A1: Varustettu HDMI-, USB3.0- ja WIFI-liitännöillä. Se tukee suoran näytön näyttöä ja langallista / langatonta PC:tä yhteys.
A2: Se tukee 4K ultra-HD -valokuvien ja -videoiden tallennusta. Tiedostot voidaan tallentaa FAT32-formatoidulle U-levylle 32 Gt:n sisällä kapasiteettia tai tietokoneen tallennustilaa. Tukee sekä näytöllä että PC-ohjelmistolla tapahtuvaa tarkkuusmittausta, tietojen säästämistä ja raportti-vientitoiminnot.
A3: Se tukee laitteiston automaattista tarkennusta, syväterävyyssynteesiä, PC-puolen kuvien yhdistämistä ja toissijaista kehitystä. Laajalti käytetty metallografiseen analyysiin, puolijohteiden tarkastukseen, tarkkuuskomponenttien tarkastukseen, tieteellinen tutkimus, opetus ja huippuluokan teollinen tarkkuushavaitseminen.
A4: Kuvaton vianmääritys: Tarkista virtalähde, HDMI-kaapeli ja näytön signaalilähde ja käynnistä laite uudelleen. Epäterävän kuvan vianmääritys: Säädä manuaalisen tarkennuksen käsipyörää, aseta näyte tasaiseksi ja puhdista linssin pinta. Verkkovika vianmääritys: Aseta tietokone ja laite samaan IP-segmenttiin, sammuta palomuuri ja kytke verkkokaapeli uudelleen. U-levy-virhe vianmääritys: Vaihda tai alusta uudelleen U-levy (täytyy olla FAT32 ja ≤32 Gt).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. perustettiin virallisesti vuonna 2011. Perustajajäsenemme kerääntyivät käytännön optisten instrumenttien osaaminen vuodesta 2005 alkaen. Toimitamme täyden syklin tuen, joka kattaa räätälöidyn optisen suunnittelun, talon oma tuotekehitys, kansainvälinen myynti ja kattavat myynnin jälkeiset huoltopalvelut. Meidän osaava insinööritiimi omistaa yli kymmenen vuoden mikroskopia-kehitysasiantuntemuksen, joka varmistaa vakaan teknisen suorituskyvyn ja johdonmukainen tuote-luotettavuus.
GAOPIN toimittaa yli 100 luokkaa optisia testausinstrumentteja palvellakseen teollisuus- ja laboratorioasiakkaita ympäri maailmaa. Keskitymme toimittamaan joustavia, kustannustehokkaita räätälöityjä mikroskopia-tarkastusratkaisuja tyydyttää monipuoliset testausvaatimukset.
Ulkomaisille ostajille tarjoamme reagoivaa maailmanlaajuista teknistä tukea, mukaan lukien etä-online-konsultointi, käytännön-video-opetusohjelmat ja live-etä-laitteiden-käyttö-koulutus. Tuotantolaitoksemme sijaitsee Kunshanissa, Jiangsun maakunta, josta on kätevät kulkuyhteydet Shanghaihin. Tehdasvierailut paikan päällä ja virtuaaliset online-kierrokset ovat tervetullut. Ota yhteyttä myyntitiimiimme saadaksesi tällä tutkimusluokalla otettuja aitoja näytetestauskuvia metallografinen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä ja automaattitarkennuksella arvioimaan todellista kuvantamisen suorituskykyä.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
