GP-L500-300C on tutkimustason metallografinen mikroskooppi, jossa on erittäin suuri liikkuva vaihe suurikokoisille näytteille. Suurikokoinen suurennostettu metallurginen mikroskooppi tuottaa 1080P HD -kuvan, joka näyttää selkeät mikrorakenteen yksityiskohdat. Trinokulaariportti tukee kameran asennusta metallografisen analyysin työnkulkuja. Se on ihanteellinen suurikokoisten materiaalien metallurgian havainnointiin, puolijohteisiin tarkastus, PCB-viipaleanalyysi ja teollisuus-laboratoriolaadunvalvontaskenaariot.
Tämä suurennostusinen metallurginen mikroskooppi soveltuu metallografisten mikrorakenteiden ja pinnan morfologian mikroskooppiseen havainnointiin. Se toimii ihanteellisena tutkimusvälineenä metallurgian, mineralogian ja tarkkuustekniikan aloille.
Trinokulaariseen koteloon sisäänrakennettu HD-kamera mahdollistaa samanaikaisen katselun okulaarin ja näytön kautta. HDMI reaaliaikainen mikrokuva tuotos yhdistää havainto- ja tallennustyönkulut.
Optinen suurennus 50-800X; Suurin puhdas digitaalinen suurennus jopa 6080X viiden objektiivin objektiivisarjalla. Tarkkuus optinen polku tarjoaa teräviä yksityiskohtia kiekkojen ja sirujen mikrotarkastukseen.
Vakaat tarkennusnupit yhdistettynä objektiivin koteloon varmistavat lempeän tarkennuksen ja vähentävät kuvan tärinää.
Ylisuuri liikkuva näytepöytä yhdistettynä paksun metallipohjan kanssa. Pysyy vakaana suurikokoisille näytteille ilman huojuntaa aikana pitkäaikainen tarkkailu.
Minimalistinen täysin valkoinen teollisuustyylinen jäykkä runko. Sopii hyvin puolijohdepajoihin ja yliopistoon laboratoriot.
Optimoitu sirujen ja kiekkojen tarkastukseen; myös laajalti käytetty puolijohteiden testaukseen, metallografiseen analyysiin, materiaalitutkimus ja laadunarviointityö.
1080P valokuva- ja videokaappaus, sisäänrakennettu tarkka monitorimittaus, U-levytallennus. Digitaalinen kuvantaminen yksinkertaistaa tiedostoa arkistointi-, kuvavertailu- ja jälkianalyysityöt.
Binokulaarinen katselu ja synkroninen elektroninen tarkkailu:Okulaarinäkymä ja monitorin näyttö toimivat synkronisesti. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain okulaarihavainnointia; ylimääräisiä kameran lisävarusteita ovat tarvitaan näytön ulostuloon.
Suurikokoinen lava ja erittäin suuri suurennus:Suurin optinen suurennus saavuttaa 800X; maksimi puhdas digitaalinen elektroninen suurennus saavuttaa 6080X. Ylisuuri liikkuva vaihe sopii suurikokoisille näytteille. Perinteiset metallurgiset mikroskoopit on varustettu pienikokoisilla työvaiheilla ja tarjoavat alemman elektroniikan suurennus.
Suora HDMI-lähtö:Liitä suoraan näyttöön HDMI-kaapelilla. Yleiset metallurgiset mikroskoopit vaativat erilliset kamerat ja kaappauskortit kuvan tuottamiseen.
Monitorin offline-mittaus:Mittausmittaus voidaan suorittaa suoraan näytöllä ilman PC-liitäntä. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit perustuvat yksinomaan PC-ohjelmistomittauksiin.
Offline-tilassa oleva U-levytallennus:Tallenna valokuvia ja videoita U-levylle ilman tietokonetta. Perinteisiä malleja täytyy liittää tietokoneeseen kuvien tallentamista varten.
Erillinen metallurginen optinen polku:Optimoitu metallisyistä, pinnoittamiseen ja metallografinen materiaalianalyysi. Tavallisista digitaalisista mikroskoopeista puuttuu tämä erikoistunut optinen polku, eikä se voi olla mahdollista visualisoida metallografisia rakenteita.
Mekaniikka:Täysmetallinen raskaan käytön runko korkea jäykkyys ja tärinänvaimennus. Tarkkuus koaksiaalinen karkea-hieno tarkennus lukitus- ja rajoituslaitteella, hienoliikkeen graduation arvo: 0,7 μm. Suurikokoinen manuaalinen XY-lava pehmeällä kulumista vähentävällä liikkeellä. Trinokulaarinen optinen polku säilyttää optisen samansuuntaisuuden vaihdon aikana tavoitteita.
Optiikka:Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit. Heijastava halogeenilamppu valaistus säädettävällä kirkkaudella.
Kuvaus ja mittaus:2 megapikselin 1080P HD CMOS -kenno, vain HDMI-lähtö. Sisäänrakennettu laiteohjelmisto mittaus suoritetaan monitorissa. Esikalibroitu tehtaalla; parametrit säilyvät virran katkaisun jälkeen; ei päivittäistä kalibrointia vaaditaan. Tietojen tallennus vain yhteensopivan U-levyn kautta. PC-liitäntä, USB-portti ja toissijaiset kehitystoiminnot EIVÄT ole käytettävissä tuettu mallille GP-L500-300C.
Laatu ja huolto:Täydellinen tehtaan optinen kalibrointi ja suorituskyvyn tarkastus. Tarkastus raportit ja näytemikrokuvat voidaan toimittaa pyynnöstä. Älä pura optisia moduuleja. Tavallinen pölytiivis puhdistus pidentää käyttöikää.
Puolijohdekiekot ja -sirut (ydinsovellus):
Piikiekot, litografiaviipaleet, IC-sirut, MOS-putket, piirilevyt, FPC-joustopiirit, pakatut juotosliitokset.
Tarkastuskohteet: sisäiset mikrosirupiirit, kiekkojen pinnoitteet, syövytysvirheet, pakkauskuplat, kylmäjuotto
liitokset, hapettuminen ja tappien muodonmuutos.
Metallografiset näytteet ja laitteiston leikkaustyökalut:
Metallografiset profiilit, seosteräs, poranterät, jyrsimet, tarkkuusleimatut metalliosat.
Tarkastuskohteet: metallirakeiden rakenne, lämpökäsittelyn metallografinen analyysi, mikropinnan halkeamat,
huippuluokan lastut, purseet, kulumisjäljet ja sisäisten materiaalien epäpuhtaudet.
Laboratorionäytteet: jauhe, kuitu ja ohut kalvo:
Metallijauhe, kemiallinen jauhe, hiilikuitu, tekstiilikuitu, optiset pinnoituskalvot.
Tarkkaile hiukkasten morfologiaa, kuitujen rakennetta, kalvon delaminaatiota ja mikropinnoiterakenteita.
Optoelektroniset ja tarkkuusmuovikomponentit:
LED-sirut, optiset linssit, ruiskuvaletut osat, puolijohdeliima.
Tunnista mikrohuokoset, pintatahrat, karkeat reunat, delaminaatio, kuplat ja pienet kosmeettiset viat.
Suuret tarkkuusminiatyyrikomponentit:
Liittimet, liittimet, mikrojouset, suuret meistetut työkappaleet, pitkät osat.
Erittäin suuri liikkuva lava mahtuu ylimitoitettuja näytteitä; pikselitason tarkka mittaus rakoille, reikien halkaisijoille,
korkeuserot ja lineaariset mitat.
Akateemiset laboratoriot ja puolijohdetehtaan laadunvalvonta:
Materiaalitutkimuskokeet, saapuvien tavaroiden ja valmiiden tuotteiden täydellinen puolijohteiden tarkastus,
metallografinen näytteen tarkkailu; valokuvien/videoiden arkistointi.
Laajennettu suuri alusta mahdollistaa kiekkojen, suurten PCB-levyjen ja isojen metalliviipaleiden täyden tarkkailun ilman näytettä leikkaaminen. Täydellinen puolijohdekiekkojen, piirilevyjen ja suurten laitteistokomponenttien tarkastukseen.
Askelsäädettävä suurennus: optinen 50x-800x; Suurin digitaalinen suurennus jopa 6080X (puhdas digitaalinen zoom). Kaappaa työkappaleen ulkonäkö ja erittäin hienot yksityiskohdat, kuten lastupiirit, metallirakeita, mikronaarmuja ja pinnoitteita huokoset. Ihanteellinen puolijohteiden T&K-testaukseen.
Trinokulaarinen synkroninen valopolku mahdollistaa samanaikaisen havainnoinnin binokulaaristen okulaarien ja HDMI-monitorin kautta. Sopii käytettäväksi T&K-tiimin keskustelu, kaksoislaaduntarkistus ja yliopisto-laboratorioopetus virhearvioinnin vähentämiseksi.
Yksi HDMI-ulostulo sisäänrakennetulla monitorin mittaustoiminnolla. Tallenna 1080P valokuvia ja videoita suoraan yhteensopiva U-levy. Plug and play yksinkertaisella johdolla. Sopii perustarkastusasemille puolijohdepajoissa ja pientä materiaalia laboratoriot.
Paksu integroitu tärinänvaimennusrunko ja koaksiaalinen manuaalinen karkea-hieno-tarkennus. Tasainen tarkennus ilman kuvan siirto pitkän tunnin jatkuvan tarkastuksen aikana. Soveltuu päivittäiseen massatulotestiin kiekkoille ja piirille levyt ja pitkäaikainen staattisen näytteen laboratorioanalyysi.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Tuote | Kuvaus |
| Tuote | GP-L500-300C Tutkimusluokan metallografinen mikroskooppi |
| Luokka | Teollisuuden tutkimustason suuren alustan trinokulaarinen metallurginen tarkastusmikroskooppi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen katseluoptinen järjestelmä, suuren alueen liikkuva näytelava, suuritehoinen metallurginen objektiivisarja, HD CMOS -kuvakenno, sisäänrakennettu digitaalinen tarkkuusmittausmoduuli, reaaliaikainen HDMI video lähtö, U-levyn paikallinen kuvantallennustekniikka |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/200/500/800×; Elektroninen suurennus: 380/760/1520/3800/6080× (6080X on puhdasta digitaalinen zoom); Lähtöliitäntä: vain HDMI; Kuvaustarkkuus: 1920*1080; Manuaalinen tarkennus; Sisäänrakennettu tarkka mittaustoiminto, U-levyn tallennus; Näyttöpääte tukee HD-kuvan esikatselua, valokuvaamista ja video tallennus. |
| Tyypilliset sovellukset | Kiekkojen ja puolijohdesirujen mikrorakenteen tarkastus, suurikokoisten elektronisten komponenttien tarkkailu, metallia metallografinen raeanalyysi, pakkauspiirin tunnistus, piirilevyn poikkileikkauksen tarkastus, uusi-energia-materiaali testaus, laboratorio-edistynyt materiaalitutkimus |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (Shanghain vieressä) |
| Malli | GP-L500-300C |
| Resoluutio | 1920×1080 |
| Todella tehokkaat pikselit | 2 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Manuaalinen tarkennus |
| Optinen muoto | 1/2" |
| Pikselin koko | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Tulostusmenetelmä | HDMI |
| Yksityiskohtaiset toiminnalliset esittelyt, jotka vastaavat jokaista lähtöliitäntää | HDMI voidaan liittää 4K-yhteensopiviin näyttöihin. Sulautetut ammattimaisen kuvankäsittelyn laiteohjelmiston tuet valokuvien tallennus, videotallennus, mittamittaus, kuvantoisto ja kuvien vertailu, käytössä kirjoittaja hiiri reaaliajassa. |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @1920*1080 |
| Syvyysterävyyssynteesi | / |
| Kuvan yhdistäminen | / |
| Mittausmenetelmä | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä |
| Mittaustarkkuus | 0,001 mm |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4 vaihdettavaa yksikköä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, radiaani, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus lisäämällä, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki ja paljon muuta |
| Varastointimenetelmä | U-levyn tallennustila |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittauslaiteohjelmisto, joka perustuu Linux 3.1 -ytimeen |
| Kuvan nimeäminen | Automaattinen tai manuaalinen nimeäminen saatavilla |
| Katselupää | 30° kalteva saranatyyppinen trinokulaarinen pää; pupillien välinen säätöalue: 53 mm-75 mm |
| Tarkkailutilat | Kirkas kenttä / vino valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Vain heijastuva putoavan valon valaistusjärjestelmä, 100-240 V laajajännitetulo, säädettävä hehkulanka keskus, portaattomasti säädettävä valon voimakkuus. |
| Seiso | ① Kuvaustyyppinen teline, matala-asentoinen koaksiaalinen karkea-hieno-tarkennusmekanismi, jossa lukitus ja
rajoittava
laitteet; hienoliikkeen asteikon arvo: 0,7 μm. Halogeenilamppu heijastuneen valon valaistus. ② Kirkas kenttä heijastin säädettävällä aukon rajoittimella, kenttäpysäytyksellä ja värisuodattimen kytkentäyksiköllä. ③ Keltainen, sininen, vihreä suodattimet ja himmeä lasilevy toimitetaan heijastuneen valon optiselle polulle. |
| Mekaaninen vaihe | ★ Mekaaninen liikkuva vaihe. Lavan mitat: 280 mm × 270 mm; X-Y liike: 204 mm × 204 mm (8 tuuman liike). Lasi näytteen kantolevy vain heijastuneen valon tarkkailuun, sopii suurikokoisille työkappaleille. |
| Valon lähde | 6V 30W halogeenilamppu (vain heijastuva valo) |
| Yksinkertainen polarisaatiotoiminto | Push-pull-tyyppinen polarisaattori ja analysaattori asennettu |
| Elektroninen käyttöliittymä | CTV 1X kiinteän tarkennuksen kameraliitäntä; CTV 0.5X on valinnainen hintaerokompensaatiolla. |
| Okulaarit | Kaksi WF10X/22 mm laajakulmaista tasokenttäokulaaria, joissa on yksilöllinen diopterin säätö |
| Nenäkappale | ★ Mingchangin viiden reiän objektiivin suukappale |
| Metallurgiset tavoitteet | ★ Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit ① PL L5X/0,12, työskentelyetäisyys: 26,1 mm × 1kpl ② PL L10X/0,25, työskentelyetäisyys: 20,2 mm × 1 kpl ③ PL L20X/0,40, työskentelyetäisyys: 8,80 mm × 1kpl ④ PL L50X/0,70, työskentelyetäisyys: 3,68 mm × 1 kpl ⑤ PL L80X/0,80, työskentelyetäisyys: 1,25 mm × 1kpl |
| Optinen suurennus | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (kytkettävä viisi tasoa) |
| Elektroninen suurennus | Noin 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (kytkettävä viisi tasoa); valinnainen alue: 190-3040X. |
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
Tianjinin kauppakorkeakoulu – Materiaalilaboratorioopetus, mikrokuvaus ja kokeellinen tietojen arkistointi
DOOV – Mobiililaitteiden kokoonpanon tarkastus, näytön ja komponenttien ulkoasun testaus
GREE Electric Appliances (Hefei) – Kodinkoneiden osien tarkkuusmittaus ja vikojen tarkastus
Lens Technology Co., Ltd. – Lasin suojalevyjen ja puhelimen suojapaneeleiden mikrovirheiden tunnistus
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Mitta- ja mikrovirheiden tunnistus tarkkuuskoneistettua osat
Dabo Medical – Mikromorfologinen analyysi implanttityyppisille lääketieteellisille laitteille ja biomateriaaleille
A1: Vain HDMI-liitäntä on asennettu reaaliaikaista näyttöä varten.
A2: Se tukee 1080P-teräväpiirtovalokuvien ja -videoiden tallennusta. Tiedostot voidaan tallentaa FAT32-formatoidulle U-levylle 32 GB kapasiteetti. Sisäänrakennettu näytön mittaustyökalu tukee mittamerkintöjä, tietojen tallentamista ja mittausraporttia vienti.
A3: Kuvaton vianmääritys: Tarkista virtalähde, HDMI-kaapeli ja näytön signaalilähde ja käynnistä laite uudelleen. Epäterävän kuvan vianmääritys: Säädä manuaalisen tarkennuksen käsipyörää, lukitse objektiivin linssi, aseta näyte tasaiseksi ja puhdista linssi pintaan. U-levyn tunnistusvirhe: Vaihda tai alusta U-levy uudelleen (täytyy olla FAT32 ja ≤32 Gt).
A4: Soveltuu metallografiseen havainnointiin, metallimateriaalianalyysiin, jauhemetallurgian testaukseen, tarkkuus-elektroniikkakomponenttien tarkastus, tieteellinen tutkimus ja opetuskokeet.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. perustettiin virallisesti vuonna 2011. Perustajatiimimme kertynyt Optisen tekniikan kokemus vuodesta 2005 alkaen. Olemme teollisuustarkastuslaitteiden valmistaja täyden valikoiman palvelut: itsenäinen optinen suunnittelu, tuotekehitys, kansainvälinen myynti ja pitkäaikainen myynnin jälkeinen tuki teollisuusmikroskoopeille. Omilla suunnitteluasiantuntijoillamme on yli kymmenen vuoden työkokemus optisten instrumenttien kehitys, joka varmistaa vakaan teknisen suorituskyvyn ja jatkuvan tuotteen luotettavuuden.
GAOPIN toimittaa yli sata luokkaa optisia instrumentteja maailmanlaajuisille asiakkaille. Toimitamme joustavasti, kustannustehokkaita räätälöityjä mikroskopiaratkaisuja erilaisiin teollisiin testauksiin ja laboratoriotutkimuksiin vaatimukset. Maailmanlaajuiset ulkomaiset ostajat voivat saada nopeaa teknistä tukea, mukaan lukien online-videokonsultointi, vaiheittaiset toimintaohjeet ja laitteiden etäkoulutus. Tehtaamme sijaitsee Kunshanissa, Jiangsun maakunnassa (lähellä Shanghai). Tehdasvierailut paikan päällä ja virtuaaliset verkkokierrokset ovat tervetulleita. Ota yhteyttä todellista näytetestausta varten kuvia vangittu tällä tutkimusluokan metallografisella mikroskoopilla kuvantamisen laadun arviointia varten.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
