Materiaalin mikrotarkastusta varten kehitetty metallianalyysin metallurginen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä on korkean suorituskyvyn metallianalyysin metallurginen mikroskooppi. Mikroskooppi 4K Ultra HD:n kanssa. Ensiluokkaisella infinity-korjatulla optiikalla se tarjoaa terävän visuaalisen kuvan sekä läpinäkyvästi että läpinäkymätön näytteitä. Modulaarinen rakenne tukee joustavia myynnin jälkeisiä päivityksiä kirkkaan kentän ja polarisoidun valon toimintoihin. Vahvistettu tärinänvaimennettu runko eliminoi kuvan poikkeaman suurella suurennuksella. Käyttäjäystävälliset säätimet ja tilava lava mahdollistaa pitkän jatkuvan testauksen. Valittavissa olevat yhdistetyt moduulit vähentävät koko koneen vaihtokustannuksia, mikä on ihanteellinen ammattimainen teollisuustarkastus ja metallurginen analyysityö.
Trinokulaariseen metallurgiseen kehykseen integroitu 4K-kamera mahdollistaa okulaarin ja näytön samanaikaisen katselun. Kaksoislähtö portit: HDMI & Gigabit-LAN reaaliaikaiseen erittäin selkeään mikrokuvien sieppaamiseen.
Optinen suurennus 50-600 ×, suurin digitaalinen suurennus 4560 × nelinopeuksisella objektiivizoomilla. Tarkkuus optinen polku tallentaa pieniä mikroyksityiskohtia puolijohteista, jauheista ja kuitunäytteistä.
Paksu valetusta alumiinista valmistettu pohja takaa tasapainoisen painon jakautumisen ilman huojuntaa tai siirtymistä pitkän keston aikana viipaleiden tarkastus ja materiaalianalyysi.
Minimalistinen valko-sininen trinokulaarinen asettelu, ammattimainen laboratorioestetiikka tutkimuslaboratorioihin ja teollisuuteen laadunvalvontatyöpajat.
Soveltuu hyvin puolijohdekiekkojen testaukseen, metalli-metallografiseen analyysiin, jauhe- ja kuituhavaintoon, yliopisto-tutkimus ja komponenttien laadun testaus.
Tukee alkuperäistä 4K-valokuvien ja -videoiden kaappausta. Kaksoismittaustilat: sisäänrakennettu monitorin mittaus ja PC-ohjelmistopohjainen mittaus. Kaksoistallennus: USB-flash-aseman paikallinen tallennus + PC-ohjelmiston arkistointi. Syvyysterävyyden pinoaminen ja kuvien yhdistäminen on saatavilla PC-ohjelmiston kautta; toissijainen kehitysliittymä tuettu käteväksi kuvien arkistointi, vertailu ja edistynyt data-analyysi.
Binokulaarinen katselu ja synkroninen elektroninen havainnointi:Synkronoitu näyttö okulaarin ja seurata. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain okulaarikatselua; ylimääräisiä kameran lisävarusteita ovat tarvitaan näytön ulostuloon.
Natiivi 4K ultra-teräväpiirtokuvaus:Tarjoaa 3840 × 2160 4K-resoluution. Perinteisin metallurgiset mikroskoopit on rajoitettu 1080P resoluutioon.
Kaksoislähtöliitännät:HDMI + Gigabit-LAN verkkoportti. Perinteiset metallurgiset laitteet enimmäkseen Niissä on vain PC-USB-yhteys, joista puuttuu verkkolähetyskyky.
Kaksoismittaustilat:Offline-tilassa sisäänrakennettu monitorimittaus sekä PC-ohjelmistopohjainen mittaus. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain PC-puolen mittausta ilman laitteistoon upotettua mittaustoimintoa.
Kaksoistallennustilat:Offline-tilassa USB-flash-aseman tallennus ja PC-ohjelmiston tallennus; tietojen tallentaminen - tai -painikkeella ilman isäntä-PC:tä. Perinteiset mallit vaativat PC:n kuvien tallentamiseen.
Kehittyneet kuvankäsittelytoiminnot PC:llä:Syvyysterävyyden pinoaminen ja kuvien liittäminen ovat saatavilla tukevan PC-ohjelmiston kautta. Yleisissä metallurgisissa mikroskoopeissa ei ole tällaisia algoritmitoimintoja.
Tuettu toissijainen kehitys:Gigabit-LAN mahdollistaa järjestelmäintegroinnin automaattinen tuotantolinjan käyttöönotto. Yleiset metallurgiset mikroskoopit eivät voi tukea toissijaista kehitystä integraatio.
Modulaarinen laajennettava optinen polku:Tukee polarisoidun valon ja muiden havaintomoduulien lisäämistä vaihtamatta koko yksikköä. Tavallisista digitaalisista mikroskoopeista puuttuu omistettu metallurginen optinen reitti, eikä sitä voida tehdä tarkkaile hienoja metallurgisia mikrorakenteita.
Otetaan käyttöön natiivi 3840 × 2160 4K teollinen kuvantamisanturi, joka on kalibroitu kansallisten standardien metallurgialla kalibrointilasit, laite palauttaa tarkasti mikroskooppiset morfologiat, kuten metallirakeiden rakenteet, puolijohdekiekkojen mikrotekstuurit, jauhe-hiukkasten muodot ja kuitukudoksen ominaisuudet. Se tajuaa yhtenäinen täyden kentän kuvantaminen ilman reuna-epäterävyyttä tai signaalin vaimennusta.
Nelivaiheisella objektiivin säädettävällä suurennusjärjestelmällä varustettu instrumentti kattaa kokonaissuurennuksen alue 380-4560 ×. Se täyttää kahden sovelluksen vaatimukset: pienitehoinen makroskooppinen täyden näkymän skannaus ja erittäin suuritehoinen mikroskooppisen mikrorakenteen hienoanalyysi, joka soveltuu täysin yliopisto-tieteelliseen tutkimukseen, materiaali-analyysi ja teollinen korkean tarkkuuden-laatu-tarkastus.
Sulautettu ammattimainen metallurginen mittausmoduuli tukee erittäin tarkkaa mittalaskentaa ja reaaliaikainen graafinen huomautus. Se integroi yhdellä napsautuksella teräväpiirtokuvan ja pitkäaikaisen dynaamisen videotallenteen toimintoja. Kaikki tarkastustiedot ja kuvatiedostot tukevat vientiä ja pysyvää arkistointia, mikä tarjoaa kelvollisten tietojen tuen akateeminen- kokeelliset raportit ja teolliset laadun jäljitettävyysjärjestelmät.
Ammattimainen trinokulaarinen optinen putki toteuttaa synkronisen optisen okulaarihavainnoinnin ja digitaalinen näyttö-kuvaus. Kaksoisreittiläpäisevä ja heijastuva valaistusjärjestelmä on yhteensopiva läpinäkymättömien metallinäytteiden kanssa, läpinäkyvät-jauhe-kuitu-viipaloidut näytteet ja puolijohde-kiekko-materiaalit. Tarkkuus XY-akseli mekaaninen liikkuva vaihe Siinä on erittäin pehmeä lähetys ja korkea paikannustarkkuus, mikä mahdollistaa tehokkaan ja tarkan näytteen havaitsemisen.
Puolijohde ja mikroelektroniikka:Piikiekot, fotolitografiaviipaleet, IC-sirut, PCB-levyt, FPC joustavat piirit. Tarkastuskohteet: mikrosirupiirit, pinnoitevirheet, kiekkojen viat, kylmäjuotteen viat, piirin naarmut ja pin-muodonmuutos; tarkkaile mikroniviipalerakenteita enintään 4560-kertaisella suurennuksella.
Metallografiset metallinäytteet:Metallografiset viipaleet, terässeokset, poranterät, jyrsimet, tarkkuusleimattu laitteisto. Tarkastuskohteet: Metallografinen-rae-rakenne-analyysi, lämpökäsittely-materiaalin tunnistus; tunnistaa reunahalkeamat, mikrohalkeamat, purseet ja hankaussyvyyden.
Laboratorionäytteet: jauhe ja kuitu:Metallijauhe, kemiallinen jauhe, hiilikuitu, tekstiilikuitu, ohutkalvomateriaaleja. Tarkastuskohteet: Tarkkaile hiukkasten morfologiaa, kuiturakennetta, kalvon delaminaatiota ja mikromateriaalirakenteet.
Optoelektroniset ja tarkkuusmuoviosat:LED-sirut, optiset linssit, ruiskuvaletut osat, tiivistys-liima. Tarkastuskohteet: Tunnista mikrohuokoset, pintatahrat, karkeat reunat, liimakuplat ja pienet kosmeettisia vikoja.
Tarkat miniatyyrikomponentit:Liittimet, liittimet, mikrojouset, pienoisleimatut työkappaleet. Tarkastuskohteet: Tarkkaile pieniä rakoja ja poimutusta; suorittaa pikselitason pituuden, reiän halkaisijan ja nousun tarkka mittaus.
Laboratorio- ja teollinen laadunvalvonta-arkistointi:Materiaali-tutkimus-kokeet, saapuvat ja valmiit tavarat näytteenotto-tarkastus; valokuvien ja videoiden arkistointi viallisten todisteiden tallentamiseen ja muodollisen mittauslaadun laadunvarmistuksen vientiin raportteja.
Enintään 600 × optinen suurennus ja jopa 4560 × digitaalinen suurennus alkuperäisellä 3840 × 2160 4K-resoluutiolla. Se selvästi näyttää pieniä rakenteita, kuten metallirakeita, kiekkoja, ultraohuita pinnoitteita ja mikrohalkeamia, jotka ovat ihanteellisia sirujen, uusien materiaalien ja galvanoitujen osien korkeatasoinen analyysi.
Kaksi mittausratkaisua: nopea sisäänrakennettu monitori-mittaus, erittäin tarkka ammattimainen mittaus PC-ohjelmisto. Kaksi tallennusmenetelmää: USB-flash-aseman paikallinen tallennus ja PC-eräarkistointi kuville ja mittaustiedoille.
Trinokulaarinen synkroninen-optinen reitti mahdollistaa samanaikaisen katselun binokulaaristen okulaarien ja 4K-näytön kautta. Useat käyttäjät voivat tarkistaa saman mikronäytteen yhdessä, mikä sopii erinomaisesti yliopisto-materiaalien opetukseen ja QC-kaksoistarkistus ja T&K-tiimin keskustelu väärinarvioinnin vähentämiseksi.
Ammattimainen metallurginen vaihe useilla tavoitteilla sopii metallikappaleisiin, PCB-pinnoitteisiin, puolijohdesiruihin, mineraaliviipaleet ja ohutkalvomateriaalit. Koaksiaalinen karkea ja hieno manuaalinen tarkennus voimakkaalla tärinänvaimennusrungolla, vakaa saapuvien tarkastusten, uusien materiaalien tutkimukseen ja pitkäaikaiseen staattiseen laboratorioanalyysiin.
Varustettu Gigabit-LAN-portilla, tukee verkkokuvansiirtoa ja toissijaista kehitystä-telakointia. Sopii käytettäväksi monen aseman laboratorion hallinta ja automatisoidut tehdastyöaseman integrointiprojektit.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Entiteetti | Kuvaus |
| Tuote | GP-L300-324K metallianalyysimetallurginen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä |
| Luokka | Teollinen tutkimustason trinokulaarinen 4K suuritehoinen metallografinen tarkastus- ja mittausmikroskooppi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarisen synkronisen havainnoinnin optinen järjestelmä, suuritehoinen metallurginen objektiivi-objektiiviryhmä, 4K ultra-teräväpiirto CMOS-kuvakenturi, kaksoisdigitaalinen mittausmoottori (näytössä ja PC-ohjelmisto), HDMI + Gigabit-LAN-kaksikanavainen signaalinsiirto, kaksoistallennustekniikka, PC-puolen syväterävyys pinoaminen & kuvien liitosalgoritmi, avoin arkkitehtuuri, joka tukee toissijaista kehitystä |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/400/600 ×; Elektroninen suurennus: 380/760/3040/4560 ×; Kaksoislähtö portit: HDMI + Gigabit-LAN; Kuvausresoluutio: 3840 × 2160 (4K); Manuaalinen tarkennus; Kaksoismittaustilat: sisäänrakennettu mittaus laitteessa + ammattitason PC-ohjelmiston mittaus *(0,001 mm, pienempi mittaustoleranssi voi olla saavutetaan suuremmalla suurennuksella. Tulokset riippuvat kalibroinnista, suurennuksesta ja näytteestä ehdot)*; Kaksoistallennus: USB-flash-aseman paikallinen tallennus *(Vain FAT32-alustettu USB-muistitikku, enintään 32 Gt tuettu)* + tietokone-tiedostojen tallennus; Näyttöpääte tukee HD-kuvan esikatselua, mittamittausta, valokuvaa ja - videokaappaus; PC-liitin tukee mittausta, syväterävyyspinoamista, kuvien liittämistä ja kuvien arkistointi, yhteensopiva toissijaisen kehitys-integroinnin kanssa |
| Tyypilliset sovellukset | Puolijohdekiekkojen tarkastus, metalli-metallografinen rakenneanalyysi, jauhe- ja kuitu-mikrorakenne- havaitseminen, seosainerakeiden tarkastus, materiaalipinnoitteen paksuuden testaus, piirilevyn poikkileikkausanalyysi, tarkkuus-elektroniikka-komponentti-vika-analyysi, yliopisto-laboratorio-uusi-materiaali-tutkimus, uusi-energia-materiaali-laadun-valvonta |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (lähellä Shanghaita) |
| Tuotteen merkki | GAOPIN |
| Tuotteen malli | GP-L300-324K |
| Resoluutio | 3840 × 2160 |
| Tehokkaat pikselit | 8,3 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Manuaalinen tarkennus |
| Anturin optinen muoto | 1/1,7" |
| Pikselin koko | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Lähtöliitännät | HDMI + Gigabit-LAN |
| Yksityiskohtaiset toiminnalliset esittelyt, jotka vastaavat jokaista lähtöliitäntää | ① HDMI voidaan yhdistää 4K-näyttöihin, upotettuun ammattimaiseen kuvankäsittelyohjelmaan, integrointitoimintoihin
kuten automaattitarkennus, valokuvan tallennus, koon mittaus, kuvan toisto, kuvien vertailu jne
reaaliaikainen hiiren toiminta. ② LAN Gigabit Ethernet -portti, joka voidaan liittää reitittimiin, kytkimiin, tai tietokoneet videokuvien verkkosiirtoon. Saman verkkosegmentin tietokoneet voivat samanaikaisesti lähettää kuvia reaaliajassa kuvankäsittelyohjelmiston kautta ja suorittaa sellaisia toimintoja kuten ottaa valokuvia ja säilyttää niitä. |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 Gigabit-LAN: 20 fps @ 1920 × 1080 |
| Syvyysterävyyden pinoaminen | Saatavilla vain PC-ohjelmiston kautta |
| Kuvan ompeleminen | Saatavilla vain PC-ohjelmiston kautta |
| Mittaustoiminto | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä + PC-ohjelmistopohjainen mittaus |
| Mittaustarkkuus | 0,001 mm |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4-suuntainen kytkettävä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, säde, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki |
| Varastointimenetelmä | USB-muistitikku + PC-ohjelmistotallennus |
| Kuvan nimeämistila | Automaattinen tai manuaalinen kuvatiedoston nimeäminen |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz pääohjausprosessori |
| Laiteohjelmiston käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittausjärjestelmä, joka on rakennettu Linux 3.1 -ytimeen |
| Tarkkailupää | 30° kalteva trinokulaarinen havaintoputki, 360° kääntyvä, säädettävä pupillien välinen etäisyys (53-75 mm) |
| Havaintomenetelmä | Kirkas kenttä / vino valaistus / läpäisevä valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Heijastunut ja lähetetty kaksipolkuinen valaistusjärjestelmä, 100-240 V laaja jännite; säädettävä filamenttikeskus, jatkuvasti säädettävä valon voimakkuus |
| Jalustan runko | ① Kaksikäyttöinen kehys siirtoon ja heijastukseen, matala käden asento karkea ja mikrokoaksiaalinen
keskittyminen
mekanismi. Karkea mikrokoaksiaalinen tarkennus, varustettu lukitus- ja rajoituslaitteilla, mikroruudukkoarvo:
2um. Halogeenilampun valaistus. ② Kirkas kenttäheijastin säädettävällä aukon rajoittimella, kentän pysäyttimellä ja värisuodattimen muunnoslaite. ③ Määritä sininen suodatin ja himmeä lasilevy heijastuksia varten. |
| Mobiilialusta | Kaksikerroksinen mekaaninen liikkuva vaiheessa; lavan koko: 210 × 140 mm; X-Y-isku: 75 × 50 mm; lasilava varten välitetty ja heijastettu havainto |
| Valonlähde | 6V-30W halogeenilamppu heijastuneelle valolle; 12V-50W halogeenilamppu läpäisevään valoon |
| Yksinkertainen polarisaatio | 30° polarisaattorisisäke (heijastettu valo) + 360° kääntyvä analysaattorisisä polarisoituun havainnointiin |
| Sähköinen käyttöliittymä | 1X C-kiinnitysliitäntä, ei-säädettävä tarkennus [Valinnainen: 0,5X C-kiinnitys hinnan kompensoimiseksi] |
| Okulaari | Kaksi WF10X/22 mm laajakulmaista tasakenttäokulaaria (yksi okulaari asteikkomerkillä) |
| Metallurginen objektiivi | ★ Äärettömän tasaisen kentän akromaattinen objektiivi ① PL L5X/0,12 työetäisyys: 26,1 mm per pala; ② PL L10X/0,25 työskentelyetäisyys: 20,2 mm 1 kpl ③ PL L40X/0,60 työskentelyetäisyys: 3,98 mm per pala; ④ PL L60X/0,70 työskentelyetäisyys: 3,18 mm 1 kpl ⑤ PL L100X/0,85 työetäisyys: 0,40 mm 0 kpl [vakio ei sisälly valinnainen] |
| Optinen suurennus | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × nelitasoinen säädettävä |
| Elektroninen suurennus | Noin 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × neljä tasoa säädettävä (laajennettavissa 190-2280 ×) |
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
Shanghain optiikan ja hienomekaniikan instituutti, CAS – Advanced-optical-research & optisten komponenttien karakterisointi
DOOV – Mobiililaitteen kokoonpanon tarkastus, näytön ja komponenttien ulkoasun testaus
NIO Shanghai – tarkkuustarkastus uusien energia-autojen osille ja johdinsarjakokoonpanoille
Pekingin teknologiainstituutti – Tieteellinen tutkimus-analyysi sotilastason materiaaleille ja optoelektroniset laitteet
GREE Electric Appliances (Hefei) – Kodinkoneiden komponenttien tarkkuusmittaus ja vikojen tarkastus
Fysiikan ja kemian tekninen instituutti, CAS – mikroskooppinen tutkimus matalan lämpötilan ja erikoistoiminnalliset materiaalit
Objektiivi ja okulaari:Puhalla pöly pois ilmapuhaltimella ja pyyhi linssit varovasti linssipaperilla ja linssin puhdistusaine. Älä koskaan kosketa optisia linssejä paljain käsin tai käytä puhdistukseen tavallisia talouspaperia.
Päärunko ja lava:Poista näytejätteet ja metallurginen jauhe välittömästi. Pyyhi kotelo a kuiva pehmeällä kankaalla; vältä nesteroiskeita. Tarkista säännöllisesti, että tason ruuvit ovat tiukalla, jotta vältytään aiheuttamasta siirtymisestä törmäyksiä.
Läpäisevän ja heijastuneen valon lähde:Sammuta valonlähde, kun mikroskooppi on käyttämättömänä. Blow pyyhi pöly pois valoikkunasta äläkä kosketa polttimoa suoraan.
Mekaaninen tarkennusmekanismi:Älä kierrä tarkennuksen käsipyörää liiallisella voimalla. Jatka liukumista puhtaat jäljet; älä koskaan voitele niitä itse.
Varastointiympäristö:Säilytä kuivassa, hyvin ilmastoidussa tilassa kosteuden ja homeen estämiseksi. Peitä laitetta pölysuojalla käytön jälkeen.
Ohjelmisto ja kalibrointi:Kalibroi mitta-asteikko ennen mittausten suorittamista. Täysin lähellä liittyvät ohjelmistot ennen virran katkaisemista. Älä pura yksikköä ilman lupaa; ota yhteyttä huoltopalvelua toimintahäiriöiden sattuessa.
A1: Visuaalinen suurennus: 50-600 ×; Elektroninen suurennus: 380-4560 ×. Synkroninen katselu okulaarin ja seurata on saatavilla.
A2: Se tukee HDMI-videolähtöä ja Gigabit-LAN-porttia. Se voidaan liittää suoraan näyttöön tai käyttää kameraa sen kautta LAN-verkko tietokoneen kanssa.
A3: Kuvaustarkkuus: 3840 × 2160 (4K). Se tukee sisäänrakennettua näytön mittausta ja PC-ohjelmistopohjaista mittaus. Tiedostot voidaan tallentaa USB-muistitikulle tai PC-ohjelmiston kautta.
A4: ①Tarkista mikroskoopin virtalähde; ②Varmista, että HDMI-kaapeli on liitetty kunnolla. ③Valitse oikea HDMI-tulolähde seurata; ④Käynnistä mikroskoopin isäntä uudelleen.
A5: ①Yhdistä verkkokaapeli laitteen ja kytkimen/tietokoneen välille; ②Aseta PC-IP samaan verkkosegmenttiin kuin kamera; ③ Käännä pois päältä PC-palomuuri; ④Varmista laitteen IP-asetukset ja yhdistä uudelleen.
A6: Tämä malli käyttää manuaalista tarkennusta. Pyöritä tarkennuskäsipyörää hitaasti. Varmista, että objektiivi napsahtaa paikalleen. Aseta näyte tasaiseksi ja puhdas pöly objektiivilinssiin.
Vastaus 7: Käytä FAT32-alustettua USB-muistitikkua, jonka kapasiteetti on 32 Gt. Aseta USB-muistitikku uudelleen tai alusta tai yritä uudelleen.
A8: Kyllä, toissijaista kehitystä tuetaan. Soveltuu metallografiseen analyysiin, metallimateriaaleihin, jauhemetallurgia, puolijohdekomponentit-havainnointi, tieteellinen-tutkimus ja opetus-skenaariot.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., perustettu vuonna 2011, jonka perustaja on kerännyt alan asiantuntemusta vuodesta 2005, on teknologiaan keskittynyt yritys, joka on erikoistunut teollisuuden suunnitteluun, tuotekehitykseen, myyntiin ja huoltopalveluun mikroskoopit. Ydininsinööritiimimme tuo yli kymmenen vuoden erikoiskokemuksen, mikä varmistaa kypsän teknologian ja luotettavaa laatua. GAOPINilla on yli sata optista tuotemallia ja globaali asiakaskunta toimittaa räätälöityjä, kustannustehokkaita mikroskopiaratkaisuja. Tarjoamme nopean vastauksen maailmanlaajuista teknistä tukea kautta online-konferenssit, video-avusteinen opastus ja etäkoulutus. Tuotantokantamme sijaitsee Kunshan, Jiangsun maakunta (lähellä Shanghaita). Tarjolla on sekä paikan päällä tehdastarkastuksia että virtuaalisia tehdaskierroksia asiakkaita. Ota rohkeasti yhteyttä meihin saadaksesi näytetestikuvia, jotka on otettu tällä GP-L300-324K Metal Analysis Metallurgical -laitteella 4K Ultra HD -mikroskoopilla voit arvioida kuvantamissuorituskyvyn omakohtaisesti.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
