Tämä näytteiden tarkkuusmikroskooppiseen tarkasteluun optimoitu metallurginen mikroskooppi metallianalyysiin on erittäin luotettava metallianalyysi Metallurginen mikroskooppi. Se tukee erittäin suorituskykyistä infinity-korjattua optiikkaa ja modulaarista kehystä kirkkaan kentän, polarisoidun valon ja muiden havaintotilojen joustava laajentaminen vastaamaan kehittyviä testausvaatimuksia. The vahvistettu tärinää vaimentava runko lukitsee tasaisen kuvan ja vähentää tehokkaasti mittausvirheitä korkean tarkkuuden havainnointi. Optimoidut ohjausosat vähentävät käyttäjän väsymistä pitkien työskentelykertojen aikana. Vapaasti yhdistettävät moduulit välttävät koko koneen vaihtamisen, mikä vähentää päivityskustannuksia, samalla kun varattu runsaasti työskentelyaluetta mahtuu erikokoisia näytteitä.
Sisäänrakennettu HD CCD-kamera tukee samanaikaista okulaarin ja näytön katselua reaaliaikaisella HDMI-mikrokuvalähdöllä.
50-600 × optinen ja enintään 4560 × digitaalinen suurennus 4-nopeuksisella objektiivizoomjärjestelmällä, tallentaa pieniä mikro-yksityiskohtia tarkasti.
Karkea ja hieno tarkennus varmistaa vakaan kuvantamisen vähäisellä tärinällä pitkäkestoiseen havainnointiin.
Yksiosainen valualumiinipohja varmistaa vakaan toiminnan ilman huojuntaa pitkäaikaisessa tarkastuksessa.
Minimalistinen valko-sininen trinokulaarirakenne, ammattimaisen näköinen laboratorio- ja laaduntarkastusskenaariot.
Soveltuu puolijohteiden, metallografian, jauhe- ja kuitutarkastukseen, tieteelliseen tutkimukseen ja teollinen laatutestaus työtä.
Tukee 1080P valokuvien ja videoiden tallennusta, monitorimittausta ja USB-muistitikun tallennusta kätevään kuvien arkistointi ja data-analyysi.
Binokulaarinen katselu ja synkroninen elektroninen havainnointi:Synkronoitu näyttö okulaarin ja seurata. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain okulaarikatselua; ylimääräisiä kameratarvikkeita tarvitaan näytön ulostulolle.
Suuri suurennuskyky:Jopa 600-kertainen optinen suurennus ja enintään 4560-kertainen digitaalinen suurennus suurennus erittäin hienoa mikrorakenneanalyysiä varten. Perinteisillä metallurgisilla laitteilla on pienempi maksimi digitaalisen suurennuksen suorituskykyä.
HDMI-erillinen toiminta:Toimii itsenäisesti näytön kanssa HDMI-lähdön kautta, tietokonetta ei tarvita mittausta ja talteenottoa varten. Perinteiset metallurgiset mikroskoopit luottavat yleensä isäntätietokoneeseen digitaalisessa käytössä toimintoja.
Sisäänrakennettu offline-mittaus:Suora mittaus näytössä ilman PC-ohjelmistoa. Tavallinen metallurgiset mikroskoopit tukevat vain PC-puolen mittausta ilman laitteistoon upotettua mittaustoimintoa.
Offline-tilassa oleva USB-flash-aseman tallennustila:Tallenna valokuvat ja videot USB-muistitikulle ilman tietokonetta. Perinteiset mallit vaativat PC:n kuvien tallentamiseen.
Modulaarinen laajennettava optinen polku:Tukee polarisoidun valon ja muiden havaintomoduulien lisäämistä vaihtamatta koko laitetta. Yleisillä metallurgisilla mikroskoopeilla on rajoitettu päivitysjoustavuus.
Erillinen metallurginen optinen reitti:Optimoitu metallisyistä, pinnoittamiseen ja materiaali-metallografinen-analyysi. Tavallisista digitaalisista mikroskoopeista puuttuu omistettu metallurginen optinen reitti, eikä sitä voida tehdä tarkkaile metallurgisia mikrorakenteita.
Varustettu alkuperäisellä 1920 × 1080 Full-HD teollisuuskameralla ja täysin kalibroitu tavallisella metallurgisella kameralla näytteet, tässä mikroskoopissa on korkearesoluutioinen anturi palauttamaan metallirakeiden, puolijohdekiekkojen mikrorakenteita, jauhehiukkasia ja kuiturakenteita. Se tarjoaa täyden kentän selkeät yksityiskohdat ilman reunojen hämärtymistä tai kuvaa vaimennus.
Siinä on 4-nopeuksinen objektiivizoomjärjestelmä, ja se tarjoaa kokonaissuurennusalueen 380–4560 ×. Se tukee koko alue skannaus pienellä suurennuksella ja erittäin hieno mikroskooppinen analyysi suurella suurennuksella, jotka täyttävät erilaiset vaatimukset yliopisto-laboratorio-tutkimus ja tehdas-tarkkuus-laatu-tarkastus.
Sisäänrakennettu ammattimainen mittausmoduuli mahdollistaa erittäin tarkan mittalaskennan ja reaaliaikaisen näytöllä näkyvä huomautus. Se tukee yhden napsautuksen teräväpiirtovalokuvausta ja pitkäkestoista videotallennusta. Kaikki mittaustiedot ja kuvat voidaan viedä ja arkistoida kokeellista raportointia ja kokoamista varten laatu-jäljitettävyys.
Trinokulaariputki mahdollistaa synkronisen okulaarihavainnoinnin ja digitaalisen näytön. The lähetetty ja heijastunut kaksoisvalojärjestelmä on yhteensopiva läpinäkymättömän metallin työkappaleiden ja läpinäkyvien upotettujen näytteiden kanssa. Tarkkuus XY-akseli mekaaninen vaihe tarjoaa sujuvan liikkeen ja nopean kohteen paikantamisen.
Puolijohde ja mikroelektroniikka:Piikiekot, fotolitografiaviipaleet, IC-sirut, PCB-levyt, FPC joustavat levyt. Tarkastuskohteet: Tarkkaile sisäiset sirupiirit, kiekkojen pinnoitteet, kylmäjuotteen viat, hapettuminen, piirien naarmut ja pin-deformaatiot; analysoida mikroviipalerakenteita enintään 4560-kertaisella suurennuksella.
Metallografiset metallinäytteet:Metallografiset viipaleet, leimattu metallilaitteisto. Tarkastuskohteet: Metallografinen raerakenteen analyysi, lämpökäsittelyn materiaalin tunnistus; havaita reunahalkeamia, mikrohalkeamia, purseet ja hankaussyvyys.
Jauhe- ja kuitulaboratorionäytteet:Metallijauhe, kemiallinen jauhe, hiilikuitu, tekstiilikuitu, ohutkalvomateriaaleja. Tarkastuskohteet: Tarkkaile hiukkasten morfologiaa, kuiturakennetta, kalvon delaminaatiota ja mikromateriaalirakenteet.
Optoelektroniset ja tarkkuusmuoviosat:LED-sirut, optiset linssit, ruiskuvaletut osat. Tarkastuskohteet: Tunnista mikrohuokoset, pintatahrat, karheat reunat, liimakuplat ja kosmeettiset mikrovirheet.
Tarkat miniatyyrikomponentit:Liittimet, liittimet, mikrojouset, pienet leimatut työkappaleet. Tarkastuskohteet: Tarkkaile pieniä rakoja ja poimutusta; suorittaa pikselitason tarkan pituuden mittauksen, reiän halkaisija ja nousu.
Laboratorio- ja teollinen laadunvalvonta-arkistointi:Metallografinen-slice-experiment-analyysi, saapuvien ja valmiiden tavaroiden näytteenotto-tarkastus; valokuva- ja video-arkistointi viallisia todisteita varten ja muodollisten mittausten laadunvalvontaraporttien vienti.
Max 600-kertainen optinen suurennus ja 4560-kertainen digitaalinen suurennus tunnistavat selvästi metallografiset rakeet, kiekkojäljet, pinnoitevirheet ja jauhe-mikrorakenteet. Soveltuu hyvin uusien materiaalien laboratorioihin ja tarkkuuspuolijohteiden saapuvan tarkastuksen.
Trinokulaarinen optinen reitti mahdollistaa samanaikaisen katselun binokulaaristen okulaarien ja näytön kautta. Useat operaattorit voivat tarkista mikronäytteet yhdessä, täydellinen yliopistokoulutukseen ja tehdasvikojen kaksoistarkastukseen.
Sisäänrakennettu monitori-mittausjärjestelmä. 1080P valokuvat ja videot voidaan tallentaa suoraan USB-muistitikulle. Vain a seurata tarvitaan täydellisiin tarkastustyönkulkuihin, ihanteellinen tehdastyöasemille.
Mukana useita metallurgisia objektiiveja ja kaksoisläpäisevä ja heijastuva valaistus. Yhteensopiva kanssa metallinäytteet, kiekot, jauhekuitunäytteet ja ohutkalvomateriaalit. Käytetään laajasti galvanointitarkastuksessa, yliopisto-aineisto-tutkimus ja sähköinen-saapuva-QC.
Tarkka karkea ja hieno manuaalinen tarkennus tärinää vaimentavalla raskaalla rungolla. Tukee massanäytteen uudelleentarkastusta, materiaalitutkimus ja rutiinimetallografinen analyysi.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Entiteetti | Kuvaus |
| Tuote | GP-L300-300C metallianalyysin metallurginen mikroskooppi |
| Luokka | Teollisuuden tutkimustason trinokulaarinen suuritehoinen metallografinen tarkastusmikroskooppi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen havainnointi optinen järjestelmä, suuritehoinen metallurginen objektiivi-linssiryhmä, Full HD CMOS-kuvaanturi, sisäänrakennettu digitaalinen tarkkuusmittausmoottori, HDMI reaaliaikainen videolähtö, paikallinen USB-flash-asema-kuvan tallennustekniikka |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/400/600 ×; Elektroninen suurennus: 380/760/3040/4560 ×; Lähtöliitäntä: HDMI; Kuvaustarkkuus: 1920 × 1080 (Full-HD); Manuaalinen tarkennus; Sisäänrakennettu tarkka mittaustoiminto; USB-flash-aseman tallennus *(Vain FAT32-alustettu USB-muistitikku, enintään 32 Gt tuettu)*; Monitori-pääte tukee HD-kuvan esikatselua, valokuvien ottamista ja videon tallennusta *(mittaustarkkuus: 0,001 mm, pienempi mittaustoleranssi voidaan saavuttaa suuremmalla suurennuksella. Tulokset edellyttävät kalibrointia, suurennus ja näyteolosuhteet)* |
| Tyypilliset sovellukset | Puolijohdekiekkojen havainnointi, metalli-metallografinen rakenne-analyysi, jauhe- ja kuitu-mikrorakenne- havaitseminen, seosainerakeiden tarkastus, materiaalien pinnoitusanalyysi, laboratorio-uusien materiaalien tutkimus, tarkkuus-elektroninen-komponentti-laadunvalvonta |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (lähellä Shanghaita) |
| Tuotteen merkki | GAOPIN |
| Tuotteen malli | GP-L300-300C |
| Resoluutio | 1920 × 1080 (Full-HD) |
| Tehokkaat pikselit | 2 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Manuaalinen tarkennus |
| Anturin optinen muoto | 1/2" |
| Pikselin koko | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Lähtöliitännät | HDMI |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @ 1920 × 1080 |
| Syvyysterävyyden pinoaminen | Ei saatavilla |
| Kuvan ompeleminen | Ei saatavilla |
| Mittaustoiminto | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä |
| Mittaustarkkuus | 0,001 mm *(Pienempi mittaustoleranssi voidaan saavuttaa suuremmalla suurennuksella. Tulokset riippuvat kalibrointi, suurennus ja näyteolosuhteet)* |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4-suuntainen kytkettävä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, säde, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki |
| Varastointimenetelmä | USB-muistitikku |
| Kuvan nimeämistila | Automaattinen tai manuaalinen kuvatiedoston nimeäminen |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1,3 GHz pääohjausprosessori |
| Laiteohjelmiston käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittausjärjestelmä, joka on rakennettu Linux 3.1 -ytimeen |
| Tarkkailupää | 30° kalteva trinokulaarinen havaintoputki, 360° kääntyvä, säädettävä pupillien välinen etäisyys (53-75 mm) |
| Havaintomenetelmä | Kirkas kenttä / vino valaistus / läpäisevä valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Heijastunut ja lähetetty kaksipolkuinen valaistusjärjestelmä, 100-240 V laaja jännite; säädettävä filamenttikeskus, jatkuvasti säädettävä valon voimakkuus |
| Jalustan runko | Kaksikäyttöinen lähetetty ja heijastava teline; koaksiaalinen karkea-hieno tarkennusmekanismi; karkea säätö aivohalvaus, hienosäätötarkkuus 0,002 mm lukituksella & rajapysäytyksellä; halogeenilamppujen valaistus; Kirkas kenttä heijastin, jossa on säädettävä aukko pysäytys, kenttäpysäytys ja värisuodatinmuunnos; Varustettu sinisellä suodattimella ja himmeä lasilevy heijastuneen valon havainnointiin |
| Mobiilialusta | Kaksikerroksinen mekaaninen liikkuva vaiheessa; lavan koko: 210 × 140 mm; X-Y-isku: 75 × 50 mm; lasilava varten välitetty ja heijastettu havainto |
| Valonlähde | 6V-30W halogeenilamppu heijastuneelle valolle; 12V-50W halogeenilamppu läpäisevään valoon |
| Yksinkertainen polarisaatio | 30° polarisaattorisisäke (heijastettu valo) + 360° kääntyvä analysaattorisisä polarisoituun havainnointiin |
| Sähköinen käyttöliittymä | 1X C-kiinnitysliitäntä, ei-säädettävä tarkennus [Valinnainen: 0,5X C-kiinnitys hinnan kompensoimiseksi] |
| Okulaari | Kaksi WF10X/22 mm laajakulmaista tasakenttäokulaaria (yksi okulaari asteikkomerkillä) |
| Metallurginen objektiivi | Äärettömän tasaisen kentän akromaattiset metallurgiset objektiivit: PL L5X/0,12 WD26,1 mm; PL L10X/0,25 WD20,2 mm; PL L40X/0,60 WD 3,98 mm; PL L60X/0,70 WD3,18 mm; PL L100X/0,85 WD0,40 mm (valinnainen, ei sisälly vakioon kokoonpano) |
| Optinen suurennus | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × nelitasoinen säädettävä |
| Elektroninen suurennus | Noin 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × neljä tasoa säädettävä (laajennettavissa 190-2280 ×) |
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
Fysiikan ja kemian tekninen instituutti, CAS – mikroskooppinen tutkimus matalan lämpötilan ja erikoistoiminnalliset materiaalit
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisten komponenttien testaus ja vika-analyysi
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Mitta- ja mikrovirheiden tunnistus tarkkuuskoneistetut osat
CATL – Litiumparistoelektrodien ja -kennojen mikrovikatarkastus
Shanghain optiikan ja hienomekaniikan instituutti, CAS – Advanced-optical-research & optisten komponenttien karakterisointi
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Ulkonäkö ja mikrolaadun tarkastus teollisuusstandardin mukaiset osat
Objektiivi ja okulaari:Pyyhi linssit varovasti linssipaperilla ja linssinpuhdistusaineella. Älä koskaan koske optiseen linssejä paljain käsin tai käytä puhdistukseen tavallisia talouspaperia.
Päärunko ja lava:Poista näytejätteet ja metallurginen jauhe välittömästi. Pyyhi kotelo a kuiva pehmeällä kankaalla; vältä nesteroiskeita. Tarkista säännöllisesti, että tason ruuvit ovat tiukalla, jotta vältytään aiheuttamasta siirtymisestä törmäyksiä.
Läpäisevän ja heijastuneen valon lähde:Sammuta valonlähde, kun mikroskooppi on käyttämättömänä. Blow pyyhi pöly pois valoikkunasta äläkä kosketa polttimoa suoraan.
Mekaaninen tarkennusmekanismi:Älä kierrä tarkennuksen käsipyörää liiallisella voimalla. Jatka liukumista puhtaat jäljet; älä koskaan voitele niitä itse.
Varastointiympäristö:Säilytä kuivassa, hyvin ilmastoidussa tilassa kosteuden ja homeen estämiseksi. Peitä laitetta pölysuojalla käytön jälkeen.
Ohjelmisto ja kalibrointi:Kalibroi mitta-asteikko ennen mittausten suorittamista. Täysin lähellä liittyvät ohjelmistot ennen virran katkaisemista. Älä pura yksikköä ilman lupaa; ota yhteyttä huoltopalvelua toimintahäiriöiden sattuessa.
A1: Se tukee vain HDMI-teräväpiirtolähtöä. Se toimii itsenäisesti näytön kanssa ilman tietokoneliitäntää, Yksinkertainen käyttö eri tarkkuusskenaarioissa.
A2: Se tukee 2K-teräväpiirtovalokuvien ja -videoiden tallennusta. Tiedostot voidaan tallentaa enintään 32 Gt:n FAT32-muotoillun USB:n kautta flash-asema. Sisäänrakennettu tarkka näytöllä oleva mittaus tukee mittamerkintöjä, tietojen arkistointia ja raporttien vientiä.
A3: Tarkista virtalähde ja sovitin, kiinnitä HDMI-kaapeli ja vaihda oikealle signaalikanavalle. Käynnistä uudelleen laite ratkaista mustan näytön, ei-kuvan ja näytön välkkymisen ongelmat.
A4: Se ottaa käyttöön tarkan manuaalisen tarkennuksen suunnittelun. Säädä tarkennuksen käsipyörää hitaasti saadaksesi selkeän kuvan. Aseta näyte tasainen ja säännöllisesti puhdistaa objektiivin pöly, sormenjäljet ja tahrat pitämään kuvat terävinä ja läpinäkyvinä.
A5: Tämä laite ei tue tietokoneliitäntää tai verkkoporttitoimintoa. Sisäänrakennetulla itsenäisesti toimiva- järjestelmä, se voi suorittaa kuvaamisen, tallennuksen, mittauksen ja tallennuksen suoraan näyttöliitännän kautta.
Vastaus 6: Vain 32 Gt:n FAT32-muotoiltuja USB-muistitikkuja tuetaan, NTFS- ja exFAT-muotoja lukuun ottamatta. Kytke uudelleen tai alusta USB-muistitikku tai vaihda yhteensopivaan USB-muistitikku normaalia tiedostojen tallennusta varten.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., perustettu vuonna 2011, jonka perustaja on kerännyt alan asiantuntemusta vuodesta 2005, on teknologiaan keskittynyt yritys, joka on erikoistunut teollisuuden suunnitteluun, tuotekehitykseen, myyntiin ja huoltopalveluun mikroskoopit. Ydininsinööritiimimme tuo yli kymmenen vuoden erikoiskokemuksen, mikä varmistaa kypsän teknologian ja luotettavaa laatua. GAOPINilla on yli sata optista tuotemallia ja globaali asiakaskunta toimittaa räätälöityjä, kustannustehokkaita mikroskopiaratkaisuja. Tarjoamme nopean vastauksen maailmanlaajuista teknistä tukea kautta online-konferenssit, video-avusteinen opastus ja etäkoulutus. Tuotantokantamme sijaitsee Kunshan, Jiangsun maakunta (lähellä Shanghaita). Tarjolla on sekä paikan päällä tehdastarkastuksia että virtuaalisia tehdaskierroksia asiakkaita. Ota rohkeasti yhteyttä meihin saadaksesi testikuvia, jotka on otettu tällä GP-L300-300C Metal Analysis Metallurgical -laitteella Mikroskoopilla kuvantamisen suorituskyvyn arvioimiseen omakohtaisesti.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
