GP-L600-300C metallurginen mikroskooppi kiekkojen tarkastusta varten on kiekkojen tarkastusmetallurginen mikroskooppi, joka on erityisesti suunniteltu materiaali-mikrorakenteelle tarkastus. Se on varustettu korkearesoluutioisella heijastuneen valon optisella järjestelmällä ja DIC-differentiaalihäiriötoiminnolla. tuottaa stereokohokuvia metallien, metalliseosten raerakenteiden, halkeamien, sulkeumien ja pinnoitekerrosten tarkkailuun, puolijohteita ja muita materiaaleja. Sisäänrakennetun teollisuuskameran ansiosta se tukee kuvien ottamista ja näyttöä mittaus; raekoon arviointi on saatavilla valinnaisella tukiohjelmistolla. Laajalti käytössä laadunvalvonta, vika-analyysi ja materiaalitieteen-tutkimuksen skenaariot.
Tämä metallurginen mikroskooppi kiekkojen tarkastukseen soveltuu metallografisten mikrorakenteiden ja pinnan morfologian mikroskooppiseen havainnointiin. Se toimii ihanteellisena tutkimusvälineenä metallurgian, mineralogian ja tarkkuustekniikan aloille.
1. Binokulaarinen katselu ja synkroninen elektroninen tarkkailu:Okulaarinäkymä ja monitorin näyttö toimivat synkronisesti. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit tukevat vain okulaarihavainnointia; ylimääräisiä kameran lisävarusteita tarvitaan näytön ulostuloon.
2. Erittäin tarkka mekaaninen runko:Jäykkä mekaaninen rakenne vakaalla optisella tiellä, sopiva puolijohde- ja materiaalianalyysityöhön. Perinteiset metallurgiset mikroskoopit tarjoavat alhaisemman mekaanisen toiminnan tarkkuutta.
3. Suora HDMI-lähtö:Reaaliaikainen kuva ulostulo monitoriin HDMI-kaapelin kautta. Yleinen metallurgia mikroskoopit vaativat erilliset kamerat ja kaappauskortit kuvan tuottamista varten.
4. Monitorin offline-mittaus:Mittojen mittaus voidaan suorittaa suoraan näytössä ilman PC-yhteyttä. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit perustuvat yksinomaan PC-ohjelmistomittauksiin.
5. Offline-tilassa oleva U-levytallennus:Tallenna valokuvia ja videoita U-levylle ilman tietokonetta. Perinteinen mallien on liitettävä tietokoneeseen kuvien tallentamista varten.
6. Erillinen metallurginen optinen polku:Optimoitu metallirakeille, pinnoitteille, puolijohteille ja metallografinen tarkastus. Tavallisista digitaalisista mikroskoopeista puuttuu tämä erikoistunut optinen polku, eivätkä ne pysty visualisoimaan metallografiset rakenteet.
Trinokulaariseen koteloon sisäänrakennettu HD-kamera mahdollistaa samanaikaisen katselun okulaarin ja näytön kautta. HDMI reaaliaikainen mikrokuva tuotos yhdistää havainto- ja tallennustyönkulut.
Tukee DIC-, kirkkaan-, pimeän- ja polarisoidun valon havainnointia. 4-vaiheinen suurennus, optinen 50-500X, max digitaalinen suurennus jopa 1900X, mikä tarjoaa teräviä yksityiskohtia mikroominaisuuksien tarkastamiseen.
Kaksoistarkennusnupit yhdistettynä vahvistettuun linssipiippukokoonpanoon mahdollistavat tasaisen tarkennuksen ja minimoivat kuvan tärinän.
Paksu integroitu metallirunko ja lavakiinnike matalalla painopisteellä, mikä pitää suorituskyvyn vakaana pitkäkestoinen laboratoriohavainto.
Minimalistinen täysin valkoinen jäykkä metallirakenne modulaarisella optisella asettelulla, sopii hyvin laboratorioihin ja tutkimukseen instituutit.
Ihanteellinen kiekkojen tarkastukseen, metallografiseen analyysiin, materiaali-mikrorakenteen karakterisointiin, akateemiseen tutkimukseen ja tarkkuus-laatu-arviointityötä.
1080P valokuva- ja videokaappaus, sisäänrakennettu monitorimittaus, U-levytallennus. Digikuvat yksinkertaistavat tiedostojen arkistointia, vertailu ja kokeen jälkeinen analyysi.
Mekaniikka:Täysmetallirakenne takaa korkean jäykkyyden ja tärinänkestävyyden. Tarkkuus karkea-hieno tarkennus ilman vastaiskua. Erittäin tarkka manuaalinen XY mekaaninen vaihe, vähäinen kuluminen ja minimaalinen puhdistuma. Trinokulaarinen optinen polku ylläpitää optista samansuuntaisuutta suurennusvaihdon aikana.
Optiikka:Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit huurtumista estävällä kovapinnoitteella. Läpäisevä-heijastava 12V-100W halogeenilamppuvalaistus.
Kuvaus ja mittaus:Teollisuusluokan HDMI 1080P -kamera erinomaisella häiriösuojalla suorituskyky, sopii teollisuusympäristöön. Mittaukset suoritetaan näytöllä olevan laiteohjelmiston kautta.
Toimintaympäristö:Käyttölämpötila 10-35℃, suhteellinen kosteus 30-75%RH. Vakaa suorituskyky normaalissa tehtaan sähkömagneettisessa ympäristössä. Vältä voimakasta tärinää, syövyttäviä kaasuja ja kovaa pölyä.
Laatu ja huolto:Koko tuotteen tehdastarkastus. Älä pura optisia moduuleja. Säännöllinen pölytiivis puhdistus pidentää käyttöikää.
Puolijohde ja mikroelektroniikka (ydin DIC-sovellus):
Piikiekot, litografiaviipaleet, IC-sirut, piirilevyt, FPC-joustopiirit, juotosliitokset, pakkauskomponentit.
Tarkastuskohteet: lastun pinnan topografia, kiekkoetsauskuviot, nanonaarmut, kylmäjuotosliitokset,
hapettuminen ja tapin muodonmuutos. Differentiaali-häiriö-kontrasti (DIC) korostaa hienovaraisia pinnan korkeuseroja
mikropiiriviipaleiden havainnointiin 190-1900× suurennusalueella.
Metallografiset metallinäytteet:
Metalliseos metalliosat, teräs, tarkkuus leimattu metalli laitteisto.
Tarkastuskohteet: metallin raerakenne, lämpökäsittelyanalyysi, mikropinnan halkeamat, reunahalkeilu, hienot purseet,
kulumisjälkiä ja sisäisiä materiaalien epäpuhtauksia. Kirkaskenttä / tumma kenttä / polarisoitu valo -tilat saatavilla metallille
kiderakenteen havainnointi.
Laboratoriotutkimusnäytteet: kristalli, jauhe, kuitu ja ohut kalvo:
Kemialliset kiteet, metallijauhe, hiilikuitu, tekstiilikuitu, optiset pinnoituskalvot.
Tarkkaile kiteiden morfologiaa, hiukkasten ääriviivoja, kalvon delaminaatiota ja mikropinnoitteen tekstuureja; polarisoitu valo
tunnistaa kidepolarisaatio-ominaisuudet.
Optoelektroniset tarkkuusmuovikomponentit:
LED-sirut, optiset linssit, lasisubstraatit, puolijohdeliima.
Tunnista mikrohuokoset, nano-naarmut, liiman delaminaatio, kuplat ja hienovaraiset pinnan epätasaisuudet.
Tarkat miniatyyrikomponentit:
Liittimet, liittimet, mikrojouset, pienet meistetut työkappaleet.
Pikselitason tarkka mittaus rakoille, reikien halkaisijoille, jako- ja pinnankorkeuseroille; DIC visualisoi
hienovarainen puristusmuodonmuutos.
Yliopistolaboratoriot ja huippuluokan puolijohteiden laadunvalvonta:
Materiaalitutkimuskokeet, kiekkojen saapuvien tavaroiden tarkastus, metallografisten näytteiden tarkkailu; valokuva-video
arkistointi.
Varustettu alkuperäisellä 1920*1080 HD-kuvauksella. Soveltuu metallografiseen havainnointiin, peruspuolijohteiden tarkastukseen ja yksinkertainen laboratorioraporttien luominen; näyttää selvästi metallirakeita ja pieniä piirivirheitä.
Manuaalinen tarkennus, joka sopii staattisiin laboratorionäytteisiin ja matalataajuiseen työkappaleen vaihtoon. Vakaa tarkennus rakenne tarkalla hienosäädöllä yksityiskohtaista staattisen näytteen tarkkailua varten.
Vakio manuaalinen liikkuva vaihe ja pystysuora trinokulaarinen metallurginen optinen polku metallinäytteille, lastuviipaleille ja keskikokoiset PCB-levyt, jotka estävät tehokkaasti heijastavan häikäisyn perusmetallografisessa tarkastuksessa.
Kaksoissuurennusalue: 50-500X optinen suurennus, 190-1900X digitaalinen suurennus. Kattaa molemmat kokonaiset näytteet yleiskatsaus ja mikrojyvien / mikrovikojen tarkastus.
Sisäänrakennettu laitteen mittaustoiminto, reaaliaikainen HDMI-lähtö, U-levy tarkastuskuvien ja mittausten tallentamiseen tiedot perus-laboratorio-arkistointitarkoituksiin.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Tuote | Kuvaus |
| Tuote | GP-L600-300C kiekkojen tarkastusmetallurginen mikroskooppi |
| Luokka | Laboratoriotutkimusluokan trinokulaarinen metallurginen mikroskooppi, tukee DIC-differentiaalista häiriötä, kirkkaan kentän / pimeän kentän / polarisoidun valon havainnointi |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen katseluoptinen järjestelmä, monimuotoinen integroitu valaistus (kirkas kenttä, tumma kenttä, polarisaattori, differentiaali-häiriö-kontrasti DIC), ammattimainen korkea tarkkuus metallurginen objektiivisarja, HD CMOS -kuvakenno, sisäänrakennettu digitaalinen tarkkuusmittausmoduuli, HDMI reaaliaikainen videolähtö, U-levyn paikallinen kuvantallennustekniikka |
| Tärkeimmät tiedot | Visuaalinen suurennus: 50/100/200/500×; Elektroninen suurennus: 190/380/760/1900×; Lähtöliitäntä: HDMI vain; Kuvaustarkkuus: 1920*1080; Vain manuaalinen tarkennus; Sisäänrakennettu tarkka mittaustoiminto; U-levy varastointi; Näyttöpääte tukee HD-kuvan esikatselua, valokuvien ottamista ja videon tallennusta; Havainto tilat sisältää differentiaalihäiriön, kirkkaan kentän, tummakentän, polarisoidun valon. |
| Tyypilliset sovellukset | Puolijohdekiekko-vika-analyysi, metallimateriaalien metallografinen testaus, pinnoitus-ohutkalvo- mikrorakenteen havainnointi, tarkkuuspuolijohdepaketin tarkastus, uuden materiaalin laboratoriotutkimus, lääketieteellisten biomateriaalien havainnointi, elektronisten komponenttien mikrovikojen havaitseminen |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Valmistajan sijainti | Kunshan, Jiangsu, Kiina (Shanghain vieressä) |
| Malli | GP-L600-300C |
| Resoluutio | 1920×1080 |
| Todella tehokkaat pikselit | 2 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Vain manuaalinen tarkennus |
| Optinen muoto | 1/2" |
| Pikselin koko | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Tulostusmenetelmä | HDMI |
| Yksityiskohtainen esittely lähtöliitännöistä | ① HDMI liitetään 4K-yhteensopiviin näyttöihin. Sulautetut ammattimaisen kuvankäsittelyn laiteohjelmiston tuet valokuvien tallennus, videotallennus, mittamittaus, kuvantoisto ja kuvien vertailu, käytössä hiirellä reaaliajassa. |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @1920*1080 |
| Syvyysterävyyssynteesi | / |
| Kuvan yhdistäminen | / |
| Mittausmenetelmä | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä |
| Mittaustarkkuus | 0,001 mm |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4 vaihdettavaa yksikköä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, radiaani, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus lisäämällä, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki ja paljon muuta |
| Varastointimenetelmä | U-levyn tallennustila |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittauslaiteohjelmisto, joka perustuu Linux 3.1 -ytimeen |
| Kuvan nimeäminen | Automaattinen tai manuaalinen nimeäminen saatavilla |
| Katselupää | 30° kalteva saranatyyppinen trinokulaarinen pää; pupillien välinen säätöalue: 54-76 mm; kaksi säteen jakamista suhteet: 100:0, 0:100 |
| Tarkkailutilat | ★ Kirkas kenttä / tumma kenttä / polarisoitu valo / DIC (DIC-laitteisto on valinnainen) |
| Valaistusjärjestelmä | Läpäisevä-heijastava putoavan valon valaistusjärjestelmä, 100-240V laajajännitetulo, säädettävä filamentti keskellä, portaattomasti säädettävä valon voimakkuus. |
| Seiso | ① Kaksikäyttöinen lähetys-heijastava teline; matalan käden asennon koaksiaalinen karkea-hieno-tarkennusmekanismi.
Karkeasäätöisku: 33 mm; hienosäätötarkkuus: 0,001 mm. Varustettu lukituksella ja rajoituksella
laitteita ② Kirkkaan ja tumman kentän heijastin säädettävällä aukon rajoittimella, kentän pysäyttimellä ja säädettävä keskuskokoonpano. ③ Häiriösuodatin ja väritasapainolevy (valkoinen valo). heijastuneen valon optinen polku. ④ valo-pimeä-kentän kytkinlaite; paikat värisuodattimille ja polarisaatiotarvikkeet. |
| Mekaaninen vaihe | 4 tuuman manuaalinen mekaaninen taso. Lavan mitat: 230 mm × 215 mm; X-Y liike: 105 mm × 105 mm. Lasi näyte-kannatinlevy sekä lähetettyä että heijastuvaa havainnointia varten. |
| Valon lähde | 12V 100W halogeenilamppu (heijastettu valo); 12V 100W halogeenilamppu (läpäisevä valo). |
| Polarisaatiotoiminto | 30 asteen polarisaattorin liitäntä (heijastettu valo); 360° kääntyvä analysaattorin kanta polarisoitua valoa varten havainto. |
| Okulaarit | Kaksi PL10X/22 mm laajakulmaista tasokenttäokulaaria säädettävällä diopterilla (yksi okulaari ristikkolla mittakaavassa). |
| Nenäkappale | ★ Kirkas-tumma-kentän viiden reiän objektiivin suukappale |
| DIC-toiminto | Differentiaali-häiriö-kontrastitoiminto; DIC-lisälevyn lisävarusteet ovat valinnaisia eivätkä sisälly toimitukseen sisään vakiokokoonpano. |
| Elektroninen käyttöliittymä | 0,5X C-mount kameraliitäntä, säädettävä tarkennus; CTV 1X on valinnainen hinta-eron kompensaatiolla. |
| Metallurgiset tavoitteet | ★ Kirkas-pimeä-kenttä puolituhoava metallurgiset tavoitteet ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, toimii Etäisyys: 9,00 mm × 1kpl ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, työskentelyetäisyys: 9,00 mm × 1 kpl ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, työskentelyetäisyys: 3,40 mm × 1kpl ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, työskentelyetäisyys: 7,50 mm × 1 kpl ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, työskentelyetäisyys: 2,10 mm (valinnainen, ei sisälly vakiopakettiin) |
| Optinen suurennus | 50X, 100X, 200X, 500X (nelitasoinen vaihdettavissa) |
| Elektroninen suurennus | Noin 190X, 380X, 760X, 1900X (nelitasoinen kytkettävä); valinnainen suurennusalue: 380-3800X. |
Vastuuvapauslauseke:Yritysten, yliopistojen ja tutkimuslaitosten logot ja nimet vain tällä sivustolla osoittavat, että kyseiset tahot ovat ostaneet tai käyttäneet GAOPIN-merkkisiä mikroskooppeja. Niiden ulkonäkö ei saa olla tulkittu kuin ostat juuri tämän tuotemallin, eikä se tarkoita kaupallista hyväksyntää, yhteistuotemerkkiä, sidossuhdetta tai yhteishankekumppanuus näiden kolmansien osapuolien organisaatioiden kanssa.
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Tarkkuusliittimien ja komponenttien tarkastus
NIO Shanghai – Uuden energian autonosien ja johtosarjojen tarkkuustarkastus
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Epäorgaanisen keramiikan ja uuden energian materiaalien mikroanalyysi
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Ulkonäkö ja mikrolaadun tarkastus teollisuusstandardin mukaiset osat
Beijing Institute of Technology – Tieteellinen tutkimus-analyysi sotilasmateriaaleista ja optoelektronisista laitteista
GREE Electric Appliances (Hefei) – Kodinkoneiden osien tarkkuusmittaus ja vikojen tarkastus
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. perustettiin virallisesti vuonna 2011. Perustajamme aloitti tutkimuksen ja optisten tarkastuslaitteiden valmistus jo vuonna 2005 ja kertynyt runsas alan kokemus. Me toimittaa täyden syklin palvelut kattavat tuotesuunnittelun, teknisen tuotekehityksen, maailmanlaajuisen myynnin ja kattava myynninjälkeinen huolto. Omalla suunnittelutiimillämme on yli kymmenen vuoden kokemus optisten järjestelmien kehittämisestä vakaan tekninen suorituskyky ja luotettava tuotteen laatu.
GAOPIN tarjoaa yli sata luokkaa optisia tarkastuslaitteita, jotka palvelevat teollisuus- ja laboratorio- asiakkaita maailmanlaajuisesti. Tarjoamme joustavia, kustannustehokkaita räätälöityjä mikroskopiaratkaisuja eri teollisuuden tarpeisiin laadunvalvonta- ja laboratorioanalyysiprojektit.
Ulkomaisille ostajille tarjoamme oikea-aikaista maailmanlaajuista teknistä tukea, mukaan lukien online-videokonsultaatiot, toimintavideo- tutoriaalit ja etätaitokoulutus. Tuotantolaitoksemme sijaitsee Kunshanissa, Jiangsun maakunnassa (lähellä Shanghai). Tehdasvierailut paikan päällä ja virtuaaliset online-kierrokset ovat tervetulleita. Ota yhteyttä myyntitiimiimme saadaksesi autenttiset näytetestauskuvat, jotka on otettu tällä kiekkojen tarkastusmetallurgisella mikroskoopilla arvioitavaksi todellinen kuvantaminen-suorituskyky.
A1: Vain HDMI-teräväpiirtolähtö on varustettu. Ei USB-, WIFI- tai LAN-porttia. Tietokoneyhteys ei ole tuettu; se toimii itsenäisesti näytön kanssa yksinkertaisia työnkulkuja varten.
A2: Tarkista virtalähde ja sopiva sovitin; kiinnitä HDMI-kaapeli tiukasti; vaihda näyttö oikeaan HDMI-signaalilähteeseen; käynnistä laite uudelleen ratkaistaksesi mustan näytön ja ei-kuvan viat.
A3: Tämä on manuaalitarkennus malli. Säädä tarkennuksen käsipyörää hitaasti saadaksesi terävän kuvan. Lukitse objektiivi tiukasti, aseta ota tasainen näyte ja puhdista linssin pöly ja tahrat säännöllisesti saadaksesi selkeän kuvan.
A4: Vain FAT32-alustettuja U-levyjä ≤32 Gt tuetaan. NTFS- ja exFAT-muodot eivät ole yhteensopivia. Aseta uudelleen, muotoile uudelleen tai vaihda yhteensopivaan U-levyyn normaalia valokuvien ja videoiden tallentamista varten.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
