GP-L700-324K on 4K-tutkimusluokan pitkän työmatkan metallurginen mikroskooppi, jossa on 4K Ultra HD ja äärettömään korjatut suunnitelma-akromaattiset pitkän työskentelyetäisyyden tavoitteet. 4K Ultra HD pitkän työskentelyetäisyyden metallurginen mikroskooppi tarjoaa runsaasti työskentelyetäisyystilaa ja tuottaa tasaisia, teräviä kuvia koko näkökentässä hyvin korjatulla kromaattisella aberraatiolla ja kentällä kaarevuus. Sisäänrakennettu 4K-kuvausjärjestelmä tallentaa hienoja mikroyksityiskohtia. Trinocular-portti tukee kuva-analyysiohjelmistoa yhteys. Ihanteellinen metallografiseen tutkimukseen, puolijohdekiekkojen tarkastukseen ja pintavika-analyysin työnkulkuihin.

Tämä 4K Ultra HD pitkän työetäisyyden metallurginen mikroskooppi soveltuu tarkkuuskomponenttien, integroitujen piirien ja pakkausmateriaalituotteiden testaamiseen.
Mekaniikka:Täysmetallirakenne takaa korkean jäykkyyden ja tärinänkestävyyden. Erittäin pitkä työskentelyetäisyys korkean korkeuden näytteen havainnointiin. Tarkka karkea-hieno tarkennus ilman välystä. Kulutusta kestävä manuaalinen XY mekaaninen vaihe. Trinokulaarinen optinen polku säilyttää optisen samansuuntaisuuden objektiivia vaihdettaessa.
Optiikka:Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit huurtumista estävällä kovapinnoitteella. Heijastava valo 6V-30W halogeenilamppuvalaistus.
Kuvaus ja mittaus:8,3 megapikselin 4K teollinen CMOS-kamera. Kaksoislähtö: HDMI + Gigabit-LAN portti, hyvä häiriönestokyky teollisuus- ja ympäristökäyttöön. Tukee upotettua monitorimittausta ja PC-ohjelmiston mittaus. Esikalibroitu tehtaalla; parametrit säilyvät virran katkaisun jälkeen; ei päivittäinen kalibrointi vaaditaan. Kaksipoluinen tallennus U-levyn ja PC-ohjelmiston kautta. Syvyysterävyyssynteesi ja kuvien yhdistäminen käytettävissä vain PC-ohjelmistoissa. Toissijainen kehitysliittymä saatavilla Gigabit-LANin kautta.
Toimintaympäristö:Käyttölämpötila 10-35℃, suhteellinen kosteus 30-75%RH. Vakaa alla tavallinen tehdassähkömagneettinen ympäristö. Vältä voimakasta tärinää, syövyttäviä kaasuja ja kovaa pölyä.
Laatu ja huolto:Koko tuotteen tehdastarkastus. Älä pura optisia moduuleja. Säännöllinen pölytiivis puhdistus pidentää käyttöikää.
1. Suurennus:380-3800X nelinopeuksinen suuri suurennus mikrorakenteelle havainto. Tavallisissa metallurgisissa mikroskoopeissa on pienempi maksimisuurennus ja epäselvät kuvat suurella teholla, eivätkä pysty havaitsemaan pieniä metallirakeita.
2. Kuvausjärjestelmä:Natiivi 4K-tutkimusluokan kamera, synkronoitu okulaari- ja näyttökatselu. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit ottavat käyttöön matalan tarkkuuden 2K-luokan kameran ja vain okulaarin.
3. Mittaus ja varastointi:Sisäänrakennettu monitoriin tarkka mittaus, valokuva-videokaappaus testi-todisteiden-arkistointi. Tavallisissa metallurgisissa mikroskoopeissa ei ole sisäisiä mittauksia ja ne vaativat PC-ohjelmiston kaikki mittauksia ja tiedostoja säästävät työt.
4. Käyttöalue:Optimoitu kiekkojen, puolijohdesirujen ja metallin tarkkaan tarkasteluun jyviä. Tavalliset metallurgiset mikroskoopit soveltuvat vain yksinkertaiseen metalliviipaleiden havainnointiin, jossa on heikko suorituskyky hienoille lastulaatuisille näytteille.
Trinokulaariseen koteloon sisäänrakennettu 4K-kamera mahdollistaa samanaikaisen katselun okulaarin ja näytön kautta. Kaksiporttinen lähtö HDMI:n kautta ja Gigabit-LAN lähettää erittäin selkeitä mikrokuvia reaaliajassa.
Tarkka monikerroksinen linssi optinen polku nelivaiheisella suurennuksella; suurin digitaalinen suurennus jopa 3800X, toimittaa terävät mikronitason mikrorakenteen yksityiskohdat kiekkojen, lastujen ja jyvien tarkastukseen.
Koordinoidut tarkennusnupit ja vahvistettu linssin kotelo mahdollistavat tasaisen, tärinättömän tarkennuksen, joka sopii täydellisesti varten hieno tarkastus erittäin suurella suurennuksella. Vain manuaalinen tarkennus.
Ylimitoitettu paksu neliömäinen metallijalusta tarjoaa vakaan painon tasapainon, joka eliminoi siirtymisen tai tärinän aikana pitkään jatkuva suuritehoinen havainto.
Jäykkä mustavalkoinen metallirunko erillisellä irrotettavalla valonlähdemoduulilla, minimalistinen ammattimainen muotoilu Labs ja puolijohteiden tuotantolinjat.
Optimoitu kiekkojen ja sirujen tarkastukseen; käytetään myös laajasti metallografisessa analyysissä, edistyneessä materiaalitutkimuksessa, akateeminen-opetus ja tarkkuusteollinen-laadunvalvontatyö.
4K-valokuvien ja -videoiden kaappaus, kaksoismittaustilat (näytöllä sisäänrakennettu + PC-ohjelmisto). Kaksoistallennus U-levyn ja tietokone. Syvyysterävyyssynteesi- ja kuvien yhdistämistoiminnot toimivat yksinomaan tukevissa PC-ohjelmistoissa. Toissijainen kehitys tuettu LAN-portin kautta kuvien arkistointiin, vertailuun ja edistyneen tiedon analysointiin.
Puolijohde ja mikroelektroniikka (ydinsovellus):
Piikiekot, litografiaviipaleet, IC-sirut, MOS-putket, piirilevyt, FPC-joustopiirit, pakatut juotosliitokset.
Tarkastuskohteet: mikrosiru-piirikuviot, kiekkojen etsausvirheet, pinnoitteen naarmut, pakkauskuplat,
kylmäjuottoliitokset, hapettuminen ja tappien muodonmuutos.
Metallografiset metallinäytteet ja metallinleikkaustyökalut:
Metalliseosprofiilit, teräsviipaleet, tarkkuusleimatut metalliosat.
Tarkastuskohteet: metalli-rae-rakenne, lämpökäsittely-metallografinen-analyysi, mikropinnan halkeamat,
huippuluokan lastuaminen, purseet, kulumisjäljet ja sisäiset materiaalin epäpuhtaudet.
Laboratoriotutkimusnäytteet: kristalli, jauhe ja ohutkalvo:
Yksi-/polykiteet, metallijauhe, kemiallinen jauhe, optiset pinnoitekalvot, ultraohut kalvomateriaalit.
Tarkkaile mikrokidehilaa, erittäin hienojakoisten hiukkasten morfologiaa, kalvon delaminaatiota ja mikropinnoiterakennetta.
Optoelektroniset tarkkuusmuovikomponentit:
LED-sirut, optiset lasi-linssit, puolijohde-pakkaus-liima.
Tunnista mikrohuokoset, nano-naarmut, liiman delaminaatio, kuplat ja hienovaraiset pinnan epätasaisuudet.
Pienet tarkkuuskomponentit:
Liittimet, liittimet, mikrojouset, pienet tarkkuusleimatut työkappaleet.
4K-pikselin tason tarkka mittaus rakoille, reikien halkaisijoille, jako- ja pinnankorkeuseroille; tarkkailla hienovaraisesti
puristus-muodonmuutos.
Yliopistolaboratoriot ja huippuluokan puolijohteiden laadunvalvonta:
Materiaalitutkimukset-kokeet, metallurgia-opetus-analyysit, saapuvat ja valmiit tavarat-kiekkojen näytteenotto-tarkastus;
valokuva-video-arkistointi, tarkan mittauksen QC-raporttien vienti PC:n kautta.
Varustettu alkuperäisellä 3840*2160 4K ultra-HD -kuvauksella. Soveltuu kiekko-metallografiseen tarkastukseen ja metalli-materiaali-analyysi; näyttää selvästi raeraajat, mikronaarmut ja pienet mikrovirheet.
Manuaalisesti fokusoitu suunnittelu sopii laboratoriotutkimuksen näytteisiin ja yliopiston materiaalitutkimukseen. Tasainen vakaa hienosäätö tukee pitkäaikaista staattista näytteen havainnointia.
Itsenäinen jaettu koaksiaalinen valonlähde puolijohdekiekkoja, metallinäytteitä ja tarkkoja PCB-viipaleita varten. Pystysuora koaksiaalinen valaistus vaimentaa metallia heijastavaa häikäisyä ja palauttaa todelliset metallografiset tekstuurit.
Kaksoissuurennusalue: 50-500X optinen suurennus, 380-3800X digitaalinen suurennus. Kattaa molemmat kokonaiset näytteet yleiskatsaus ja mikrojyvien / mikrovikojen tarkastus.
Tukee sisäänrakennettua laitteen mittausta ja PC-ohjelmiston mittausta. Varustettu HDMI- ja Gigabit-LAN-kaksoislähdöllä portit. Valokuvia, videoita ja mittaustietoja voidaan tallentaa yhteensopivalle U-levylle tai tietokoneelle. Toissijainen kehitys tukee tuotantolinjojen integrointia ja laboratoriotietojen jäljitettävyyttä.
Neutraalipakkauslähetys on saatavilla pyynnöstä.
| Tuote | Kuvaus |
| Tuotteen malli | GP-L700-324K pitkän työskentelyetäisyyden metallurginen mikroskooppi 4K Ultra HD:llä |
| Tuoteluokka | Korkean suurennoksen tutkimustason vertikaalinen metallurginen mikroskooppi jaetulla pystysuoralla valaistuksella Kevyt lähde |
| Ydinteknologiat | Trinokulaarinen synkroninen katseluoptinen järjestelmä, jaettu itsenäinen koaksiaalinen pystysuora valolähdemoduuli, korkearesoluutioinen metallurginen objektiivisarja, 4K ultra-HD CMOS -kuvakenno, kaksoismittausjärjestelmä (laitteessa sisäänrakennettu tarkka mittaus + PC-ohjelmistomittaus), HDMI + Gigabit-LAN kaksikanavainen signaali siirto, kaksoistallennusratkaisu, avoin arkkitehtuuri, joka tukee toissijaisen kehityksen telakointia |
| Tärkeimmät tiedot | Optinen suurennus: 50/100/200/500×; Elektroninen suurennus: 380/760/1520/3800×; Kaksoislähtö liitännät: HDMI + Gigabit-LAN-portti; 4K-kaappausresoluutio: 3840 × 2160; Tarkennustila: Manuaalinen tarkennus; Kaksoismittaustilat: sisäänrakennettu tarkka mittaus + erillinen PC-ohjelmiston mittaus; Kaksi tallennustilaa tilat: U-levyn paikallinen tallennus + PC-ohjelmiston tallennus; Monitorin päätetoiminnot: Mittamittaus, HD kuvien katselu, valokuvien arkistointi; PC-päätteen toiminnot: Mittojen mittaus, valokuvien tallennus; Huomautus: Tukee toissijaisen kehityksen integraatiota. |
| Tyypilliset sovellusskenaariot | Kiekkojen ja sirun rakeiden tarkkailu, puolijohdepakkaus-vikatarkastus, metallirae metallografinen-rakenne-analyysi, tarkkuus-piiri-pieni-vikojen-tunnistus, elektroniikkakomponenttien-vika- analyysi, uusi materiaali-laboratorio-tieteellinen-tutkimus |
| Valmistaja | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Tehdasosoite | Kunshan City, Jiangsun maakunta, Kiina (Shanghain vieressä) |
| Malli | GP-L700-324K |
| Resoluutio | 3840×2160 |
| Todella tehokkaat pikselit | 8,3 megapikseliä |
| Tarkennusmenetelmä | Manuaalinen tarkennus |
| Optinen muoto | 1/1,7" |
| Pikselin koko | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Tulostusmenetelmä | HDMI + Gigabit Ethernet LAN-portti |
| Yksityiskohtaiset toiminnalliset esittelyt, jotka vastaavat jokaista lähtöliitäntää | ① HDMI liitetään 4K-yhteensopiviin näyttöihin. Sulautetut ammattimaisen kuvankäsittelyn laiteohjelmiston tuet
valokuvien tallennus, videotallennus, mittamittaus, kuvantoisto ja kuvien vertailu, käytössä
hiirellä reaaliajassa. ② Gigabit LAN-portti liittää reitittimiin, kytkimiin tai tietokoneisiin verkkoa varten kuva lähetys. Saman verkkosegmentin tietokoneet voivat vastaanottaa reaaliaikaista videokuvaa ja laukaista sieppauksen sovitusohjelmiston kautta. |
| Kuvataajuus | HDMI: 60 fps @3840×2160 Gigabit LAN: 20 fps @ 1920 × 1080 |
| Syvyysterävyyssynteesi | / |
| Kuvan yhdistäminen | / |
| Mittausmenetelmä | Sisäänrakennettu monitorin mittausjärjestelmä + PC-ohjelmistomittaus |
| Mittaustarkkuus | 0,001 mm |
| Mittayksiköt | mm / μm / mil / tuuma (4 vaihdettavaa yksikköä) |
| Mittaustyökalut | Pituus, kulma, radiaani, ympyrä, monikulmio, polyline, keskipisteen välinen etäisyys, suorakulmio, huomautus lisäämällä, automaattinen reunantunnistus, asteikkopalkki ja paljon muuta |
| Varastointimenetelmä | U-levytallennus + PC-ohjelmistotallennus |
| Näytön kieli | Yksinkertaistettu kiina / englanti (vaihdettavissa) |
| Prosessori | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz:n pääohjausprosessori |
| Käyttöjärjestelmä | Itsenäisesti kehitetty mittauslaiteohjelmisto, joka perustuu Linux 3.1 -ytimeen |
| Kuvan nimeäminen | Automaattinen tai manuaalinen nimeäminen saatavilla |
| Katselupää | 30° kalteva saranatyyppinen trinokulaarinen pää; pupillien välinen säätöalue: 53-75 mm |
| Tarkkailutilat | Kirkas kenttä / vino valaistus / yksinkertainen polarisaatio |
| Valaistusjärjestelmä | Putoavan valon valaistusjärjestelmä, 100-240 V laajajännitetulo, säädettävä hehkulanka, portaattomasti säädettävä valon voimakkuus. |
| Seiso | ① Kuvaustyyppinen teline, koaksiaalinen karkea-hieno tarkennusmekanismi lukitus- ja rajoituslaitteilla;
hienoliikkeen asteikon arvo: 2 μm. Halogeenilamppu heijastuneen valon valaistus. ② Kirkas kenttä heijastin säädettävällä aukon rajoittimella, kenttäpysäytyksellä ja värisuodattimen kytkentäyksiköllä. ③ Keltainen, sininen, mukana toimitetaan vihreät suodattimet ja himmeä lasilevy heijastuneen valon optiselle tielle. |
| Mekaaninen vaihe | Pohjan mitat: 300 mm × 240 mm; Lavan mitat: 185 mm × 140 mm; X-Y liike: 35 mm × 30 mm. Sopiva varten tarkkailemalla suhteellisen korkeita työkappaleita. |
| Valon lähde | 6V 30W halogeenilamppu (vain heijastuva valo). |
| Yksinkertainen polarisaatiotoiminto | Push-pull-tyyppinen polarisaattori ja analysaattori asennettu |
| Elektroninen käyttöliittymä | 1X C-mount kameraliitäntä, ei-säädettävä tarkennus; CTV 0.5X on valinnainen hinta-erolla korvausta. |
| Okulaarit | Kaksi WF10X/22 mm laajakulmaista tasokenttäokulaaria, joissa on yksilöllinen diopterin säätö |
| Nenäkappale | ★ Mingchangin viiden reiän objektiivin suukappale |
| Metallurgiset tavoitteet | ★ Äärettömästi korjatut plan-akromaattiset metallurgiset objektiivit ① PL L5X/0,12, työskentelyetäisyys: 26,1 mm × 1kpl ② PL L10X/0,25, työskentelyetäisyys: 20,2 mm × 1 kpl ③ PL L20X/0,40, työskentelyetäisyys: 8,80 mm × 1kpl ④ PL L50X/0,70, työskentelyetäisyys: 3,68 mm × 1 kpl ⑤ PL L100X/0,85, työskentelyetäisyys: 0,40 mm (valinnainen, ei sisälly vakiopakettiin) |
| Optinen suurennus | 50X, 100X, 200X, 500X (nelitasoinen vaihdettavissa) |
| Elektroninen suurennus | Noin 380X, 760X, 1520X, 3800X (nelitasoinen kytkettävä); valinnainen suurennusalue: 190-1900X. |
Vastuuvapauslauseke:Yritysten, yliopistojen ja tutkimuslaitosten logot ja nimet vain tällä sivustolla osoittavat, että kyseiset tahot ovat ostaneet tai käyttäneet GAOPIN-merkkisiä mikroskooppeja. Niiden ulkonäkö ei saa olla tulkittu kuin ostat juuri tämän tuotemallin, eikä se tarkoita kaupallista hyväksyntää, yhteistuotemerkkiä, sidossuhdetta tai yhteishankekumppanuus näiden kolmansien osapuolien organisaatioiden kanssa.
GAOPIN-mikroskooppeja käyttävät johtavat yritykset, tutkimuslaitokset ja yliopistot. Yhteistyömme suhteisiin kuuluvat:
Huawei Electronics – saapuvien materiaalien tarkastus ja tuotantolinjan laadunvalvonta elektronisille komponenteille
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskooppinen-ulotteinen tarkastus automatisoidut tarkkuuskoneistetut osat
NIO Shanghai – tarkkuustarkastus uusien energia-autojen osille ja johtosarjoille
Tsinghuan yliopisto – Opetus, laboratoriokuvantaminen ja kokeellinen tietojen arkistointi
Dabo Medical – Implantti-lääketieteellisten laitteiden ja biomateriaalien mikromorfologia-analyysi
Fudanin yliopisto – Mikronanomateriaalit ja biolääketieteen mikroskooppinen havainto-tutkimus
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. perustettiin virallisesti vuonna 2011. Perustajatiimimme keräsi rikkaita optinen-tarkastus-instrumentti-alan-kokemus vuodesta 2005 alkaen. Toimitamme täyden syklin palvelut kattavat tuotesuunnittelu, oma tuotekehitys, globaali myynti ja kattavat myynnin jälkeiset huoltopalvelut. Meidän ammattitaitoisella suunnittelutiimillä on yli kymmenen vuoden kokemus optisten instrumenttien kehittämisestä varmistaakseen vakaa tekninen suorituskyky ja luotettava tuotteen laatu.
GAOPIN toimittaa yli sata luokkaa optisia testauslaitteita teollisuus- ja laboratorioasiakkaat maailmanlaajuisesti. Kehitämme joustavia, kustannustehokkaita räätälöityjä mikroskopiaratkaisuja monipuolinen teollinen laadunvalvonta ja laboratorio-analyysiprojektit.
Ulkomaisille ostajille tarjoamme reagoivaa maailmanlaajuista teknistä tukea, mukaan lukien etä-online-konsultointi, käytännöllinen- video-opetusohjelmat ja live-etä-laitteiden-käyttö-koulutus. Tuotantolaitoksemme sijaitsee Kunshanissa, Jiangsussa Provinssi (lähellä Shanghaita). Tehdasvierailut paikan päällä ja virtuaaliset online-kierrokset ovat tervetulleita. Ota yhteyttä meihin myyntitiimi tämän pitkän työskentelyetäisyyden metallurgisen mikroskoopin avulla otettujen aitojen näytteiden testaamiseen 4K Ultra HD arvioimaan todellista kuvantamisen suorituskykyä.
A1: Varustettu kahdella liitännällä HDMI-teräväpiirtolähtö ja LAN-portti. Se tukee reaaliaikaista kuvantamista yhdistäminen suoraan näyttöön ja tietokoneeseen verkkokaapelin kautta. Ilman USB- ja WIFI-liitäntöjä se tukee molempia itsenäistä toimintaa ja tietokone-yhteistyötä.
A2: Se tukee 4K ultra-HD -valokuvien ja -videoiden tallennusta ja tallentaa tiedostoja FAT32 U-levylle (32G:n sisällä). Se tukee kaksoistoimintoa tarkka mittaus näytöllä ja PC-ohjelmistolla, mukaan lukien mittamerkinnät, tietojen tallennus ja mittaus-raportti-vienti toimintoja, jotka täyttävät tarkat tunnistus- ja arkistointivaatimukset.
A3: Tarkista laitteen virtalähde ja sovitettu sovitin, kiinnitä HDMI-kaapeli tiukasti, vaihda näyttö vastaavaan HDMI-tilaan. signaalikanava, käynnistä laite uudelleen mustan näytön ja ilman kuvaa koskevien ongelmien korjaamiseksi.
A4: Hyväksymällä erittäin tarkan manuaalisen tarkennuksen suunnittelun, säädä tarkennuksen käsipyörää hitaasti selkeän kuvan saamiseksi. Lukitse objektiivi tiukasti, aseta näyte tasaisesti ja puhdista säännöllisesti pöly ja tahrat linssistä ammattityökaluilla varmistaaksesi selkeän ja tarkka kuvantaminen.
A5: Varmista, että laite ja tietokone on asetettu samalle IP-segmentille, sammuta tietokone-palomuuri ja sieppausohjelmisto, kytke verkkokaapeli uudelleen tiukasti, käynnistä laite uudelleen ja mittausohjelmisto normaalia yhteyttä varten.
A6: Laite tukee vain FAT32 U-levyjä 32G:n sisällä, eikä tue suurikapasiteettisia NTFS- ja exFAT-U-levyjä. varten tunnistusvirhe, liitä uudelleen tai alusta U-levy tai vaihda yhteensopivalla U-levyllä normaalia tiedostojen tallennusta varten.
Osoite
Building 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kiina
Puh
Sähköposti
